编号：CSJS00048
篇名：电感耦合等离子体质谱法测定高纯钨中15种痕量杂质元素
作者：王长华； 李继东； 潘元海；
关键词：电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)； 反应池技术； 高纯钨； 杂质元素；
机构：北京有色金属研究总院；
摘要：采用电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)法测定高纯钨中杂质元素含量;应用H2反应池技术消除复合离子对K、Ca、Fe和Si等元素的干扰;考察了溶液酸度、基体效应等条件对测定结果的影响;以内标校正法补偿基体效应,优化选择了测定同位素和内标元素,最终建立高纯钨中15种杂质元素含量的测定方法。方法测定下限介于0.12~0.50μg/g,加标回收率在96.1%~110.6%之间,相对标准偏差小于8%。采用该方法测定高纯钨条和钨粉两种实际样品,可以满足4N~5N高纯钨的测定。
