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ECR-PECVD制备纳米硅颗粒薄膜

编号:NMJS02611

篇名:ECR-PECVD制备纳米硅颗粒薄膜

作者:胡娟; 吴爱民; 岳红云; 张学宇; 秦福文; 闻立时;

关键词:ECR-PECVD; 太阳能电池; 薄膜; 纳米硅;

机构:大连理工大学三束材料改性教育部重点实验室; 大连理工大学材料科学与工程学院; 中国科学院沈阳金属研究所;

摘要:为消除紫外线对硅基薄膜太阳能电池的热损害,并进一步提高电池转换效率,提出在硅基薄膜太阳能电池顶部低温下制备一薄层纳米硅薄膜.在P型(100)硅片上采用电子回旋共振微波等离子体增强化学气相沉积(ECR-PECVD)技术交替沉积SiO2/Si/SiO2层,改变衬底温度和H2流量沉积纳米硅薄膜,探讨低温下直接制备纳米硅薄膜的工艺.实验结果表明,在低温下,薄膜以非晶相为主,局部分布有零星的网格状晶化相,随着温度的升高,晶化趋势增加,晶化相颗粒大小在5~8 nm;当H2流量在20~40 mL/min变化时,随着流量的增加,薄膜晶化相增多,纳米硅尺寸在5~10 nm,但H2流量超过30 mL/min后,随着H2流量的增加,薄膜晶化率下降,纳米硅颗粒减少.利用H等离子体原位刻蚀方法,可明显改善薄膜晶化效果,经原位刻蚀处理后纳米晶颗粒尺寸及分布比较均匀,颗粒大小在6 nm左右.

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