编号：FTJS01167
篇名：ICP-AES测定微硅粉中Ca、Mg、Fe和Al的含量
作者：何素芳; 刘春侠; 贺与平; 单云; 熊敏; 罗永明;
关键词：电感耦合等离子体-原子发射光谱法; 微硅粉; 钙; 镁; 铁; 铝;
机构：昆明理工大学分析测试研究中心; 昆明理工大学环境科学与工程学院;
摘要：微硅粉样品经氢氟酸、硝酸、高氯酸消解,电感耦合等离子体-原子发射光谱法(ICP-AES)测定Ca、Mg、Fe、Al杂质元素含量。方法的回收率为:Ca 95.2%—100.3%,Mg 96.2%—99.6%,Fe 95.8%—97.2%,Al 98.6%—104.6%,精密度在1.50%—2.59%之间。本方法线性范围宽、分析效率高、具有良好的准确性和精密度,能快速准确地测定微硅粉中Ca、Mg、Fe和Al杂质元素的含量。
