编号：NMJS08350
篇名：电子探针技术测定稀有多金属矿中微量元素硅钽钨的实验条件设定
作者：徐爽 徐聪聪 郭腾达 林培军 李凤春 王继林 顾清宇 栾日坚 张玉强 李增胜 杨慧 魏玮
关键词：稀有多金属矿床 硅 钽 钨 电子探针 谱线干扰
机构：中国冶金地质总局山东局测试中心 山东省地质矿产勘查开发局八〇一水文地质工程地质大队 山东省地质科学研究院
摘要：近年来对稀有多金属矿的研究越来越趋向于微区化、微量化,作为其重要研究手段之一,电子探针定量分析在微量元素测试方面取得很大的进展。在微量测试过程中,除了增大测试束流,提高测试时间来降低检出限以外,更要注意去除来自其他元素,特别是主量元素的干扰。在日常测试稀有多金属样品的过程中,Si、Ta、W三个元素存在相互干扰,这种干扰对影响微量元素的测试结果,且因含量低不易被察觉,从而影响最终结论的准确性。本文以SPI标样公司的SiO;、金属Ta和W为研究对象,查明Si、Ta、W三者之间在不同测试条件下的干扰关系并给出建议:硅酸盐测试中,Si建议使用TAP-Kα,Ta和W建议使用LIF-Lα;铌钽矿测试中,Si、Ta、W建议分别使用PET-Kα、PET-Mα和TAP-Mβ,并配合Ta对Si的干扰校正测试结果更为准确。
