编号：CSJS00181
篇名：X射线荧光光谱压片法测定氧化铝中的Fe2O3和SiO2的含量
作者：肖丽梅[1]
关键词：X射线荧光光谱仪 压片 氧化铝 Fe2O3 SIO2
机构：[1]新疆众和股份有限公司,乌鲁木齐830013
摘要：采用粉末压片法制样，X射线荧光光谱压片法测定氧化铝中的Fe2O3、SiO2含量，并对分析过程中样品制备、颗粒效应、测量条件等各个环节进行了研究。用4种标样对此方法的准确度进行验证，结果表明所得测定值与已知值之间的误差均符合标准规定。对所提出方法的精密度进行了考核，结果表明所有测定结果的RSD值均小于10％，测量一个样品所需时间仅3 min，具有准确、快速、简便的特点，能满足氧化铝中Fe2O3和SiO2分析的需要。
