等离子体发射光谱法测定的应用探析

编号：FTJS05705

篇名：等离子体发射光谱法测定的应用探析

作者：贾燕；

关键词：岩石矿物； 二氧化硅； 等离子体发射光谱法；

机构：河南省地矿局第二地质勘查院；

摘要：用等离子体发射光谱法测定岩石矿物中二氧化硅的含量,和其他化学分析法相比,其克服了常规化学分析法工作量大、耗时长、步骤繁琐、测量准确度低等方面的缺点,显著的提高了工作效率以及测量精度与准确度。文章采用等离子体发射光谱法测定岩石矿物中二氧化硅的含量,试验结果表明,二氧化硅的检出限为0.008 0 mg/L;测定范围为0.023%~9.2%;方法的精密度均<1.8%。