激光法测定硅微粉粒度分布及计算机调控方法

编号：FTJS00390

篇名：激光法测定硅微粉粒度分布及计算机调控方法

作者：张军

关键词：激光粒度仪; 数学模型; 频度分布; 累积分布;

机构：昆明冶金高等专科学校学报

摘要：根据工业生产的要求,研究了灵活地调整粉磨产品的中位粒径D50,以及D85、D90、D97等任意的粒度尺寸和分布范围的实际需要。其方法是用激光粒度测试仪测得频度(微分)、累积(积分)分布的数据,通过建立数学模型,应用计算机计算技术,并结合高纯超细硅微粉的粉磨工艺系统进行研究;经激光粒度仪测定的数据按数学模型分2组分、3组分或多组分输入计算机计算处理,然后按计算结果调配出需要的粒度分布。系统可及时地打印输出调整后的频度分布和累积分布图,以及相应的数据组。若与粉磨系统的在线取样和分析配合,即可实时控制生产系统的产品粒度分布,能及时地调节控制生产,满足产品质量控制的要求。