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菲希尔金镍测厚仪，无损多层镀层测厚仪
金镍测厚?/strong>用
该设备适用于多层镀层厚度测量及材料分析，可用来定量和定性分析样品的元素组成，也可用于镀层和镀层系统的厚度测量?多可同时测定24种元素，广泛应用于电路板、半导体、电镀、珠宝等工业中的功能性镀层及电镀槽液中的成分浓度分析、/span>
金镍测厚?/strong>特点９/span>
1、无论是镀层厚度测量，还是镀液分析，复杂的多镀层应用，一个软件程序就可以完成所有测量应?/span>
2、X射线管有带玻璃窗口和钨靶的X射线管或带铍窗口和钨靶的微聚焦X射线管多种选择
3、X射线探测器PC（比例接收器）、PIN（硅PIN接收器）、SDD（硅漂移接收器）
4、可自动切换皃/span>准直器和多种滤片可以灵活地应用不同测量、/span>
X射线荧光镀层测厚及材料分析?/span>
测量方向 |
产品型号 |
应用范围 |
检测器 |
射线箠/span> |
基本滤片 |
准值器数量/尺寸(mm) |
C型开槼/span> |
从下往三/span> |
XUL |
一款适合电镀厂测量镀层厚度的性价比高的仪器，它配备了一个固定的准值器和滤，射线管出射点稍大，非常适合测量点在1mm以上的应用。对于测量典型电镀层厚度的应用，如Cr/Ni/Cu等，非常合适、/span> |
PC |
标准 |
1 |
1?#934;0.3（/span> |
?/span> |
XULM |
多用途的镀层厚度测量仪。无论是薄的还是厚的镀层（妁span>50nm Au戕/span>100um Sn）都通过选择好的高压滤片组合很好的测量。微聚焦管可以达到在很短的测量距离内小到100um的测量点大小。高达数kcps的计数率可以被比例接收器接收到、/span> |
PC |
微聚?/span> |
3 |
4＇/span>0.05*0.05-0.3（/span> |
?/span> |
|
XAN110/120 |
专门为分析金合金开发的划算的仪器。比辂span>XAN而言，只有一个固定的准直器和固定的滤片，特别适合贵金属分析、/span>XAN 110配备比例接收器，适于几种合金元素的简单分析、/span>XAN120配备了半导体接收器，更可以应用于多元素的复杂分析、/span> |
PC(XAN 110) PC(XAN 120) |
标准 |
1 |
1?#934;0.3XAN110（/span> 1(1XAN120) |
?/span> |
|
XAN |
分析专用仪器，测量方赂从下到上。用途广泛。测量室全封闭，可以使作大准直器分析，高计数康可也可被硅漂移探测器处理。激发和辐射检测方式与XDV-SDD相同。它是金合金分析和塑料中有害物质衡量分析的理想仪器、/span> |
PIN SDD |
微聚?/span> |
3/6 |
4?#934;0.2-2（/span> |
?/span> |
|
从上往下测野/span> |
XDL |
适合镀层厚度测量的耐用仪器，即使大测量距离也可以测量（DCM，范図/span>0-80mm）配备一个固定的准值器和固定的滤片。适合测量点在1mm以上的应用；跞/span>XUL类似。可 用自动测量的可编程工作台、/span> |
PC |
标准 |
1 |
1?#934;0.3（/span> |
?/span> |
XDLM |
毓span>XDL适用面更广，配备微聚焦管＋/span>4个可切换的准直器咋/span>3个基本滤片。测量头不/span>XULM想似；适合于测量小的结构如接插件触点或印刷线路板，也可以测量大的工作（DCM＋/span>范围0-80mm（/span> |
PC |
微聚?/span> |
3 |
4＇/span>0.05*0.05-0.3（/span> |
?/span> |
|
XDAL |
不span>XDLM类似但配备了半导体接收器。这样就可能可以分析元素和测量超薄层（基于良好的信噪比）。比较适合测量结构较大的样品、/span> |
PIN |
微聚?/span> |
3 |
4?#934;0.1-0.6（/span> |
?/span> |
|
XDC-SDD |
适合于全部应用的高端机型。根据测量点大小和光谱组成，激发方式灵活多样。配备了硅漂移接收器，即使强度高辽span>>100kcps的信号也可以在不损失分辨率的情况下处理、/span> |
SDD |
微聚?/span> |
6 |
4?#934;0.1-0.3（/span> |
?/span> |
|
SDV-U |
专用微观分析的测量仪器。根?span>X射线光学部件的不同，可以分析小到100um或更小的结构。强度很高所以精度也非常好。即使很薄的镀层，测量不确定性小亍/span>1nm也是可能的。仅适于测量表面平整或接近平整的样品、/span> |
SDD |
微聚?/span> |
4 |
多毛细管系统 |
?/span> |
|
XDV-Vacuum |
具备综合测量能力的通用高端机型。与XDV-XDD相当。但可外配备了可抽真空的测量室，这样就使得分析从原子序数Z=11(Na)开始的轻元素成为可能。高精度的马达驱动的XYZ平台和视频摄像头可以精确定位样品位置和测量细小部件、/span> |
SDD |
微聚?/span> |
6 |
4?#934;0.1-3（/span> |
?/span> |
|
在线测量 |
X-RAY 4000 |
用于生产过程中薄膜，金属带或穿孔带的连续测量。测量头可以装配与样品传送方向的直角的位置。操作方便，启动迅速、/span> |
数据接口可集成到质量管理或控制系绞/span> |
||||
X-RAY54000 |
用于生产线上连续测量的法兰式测量头。测量带状物，薄膜或玻璃的金属元素。在空气和真空都可以测量。提供水冷版本仪器、/span> |
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