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制样/消解设备
光学仪器及设夆/a>
分子生物学仪?/a>
KOSAKA LAB SEF 3500(表面粗糙度轮廓测定机)
Surfcorder SEF 3500表面粗糙度轮廓一体机,可进行高精度,高水平分析和多功能粗糙度轮廓测量。操作简单,显示一目了然
特点9/strong>
*高精度表面粗糙度轮廓测定机,一机两用,可进行表面粗糙度和轮廓形状测量
*配备有符?*ISO,DIN,ANSI,JIS标准的五十多种评价参数
*一个宽范围,高分辨率的检测器,提供了在同类产品中更优越的高精度测量
*通过简单的一次性操作,可更换形状、轮廓、测定装置与表面粗糙度测量装置,并不必对电缆重新布线
*配有易于操作的操作杆,选定需要操作的轴,即可实现任何的移动
*SEF 3500配有全息光栅尺,可提高宽/窄范围测量精度和Z轴的分辨率,增加更加稳定的安全系数
*独特的真直度保证
*驱动装置可以任意倾斜45度,更方便不规则样品的量测
规格9/strong>
粗糙度测
测定参数:多达五十多种,见产品目录
放大倍率:纵50-500000,横1-5000
测定范围:纵600um,横100mm
记录项目:测定值,测定条件,日期时间,输入资料(各种文字及图形资料)
评价长度?.25?.8?.5??5?0mm/任意值(0.2mm以上
/c x1,x2,x3,x4,x5
驱动速度?.05?.1?.2?.5?? mm/s,高速移動,5?0mm/s及手动
切断值(cut-off(
粗度?#955;c 0.025?.08?.25?.8?.5? mm,无cut-off
波纹度:fl 0.8?.5??5mm,fh 0.08?.25?.8?.5mm
滤波方式:高斯(Gauss),2CR,特殊高斯
资料?分解能:**32000?16位元
自动水平?小二乘法,二点法,R曲面补正,二次曲线补正
辅助功能?自由排列组合记录,记录图刻划,平均处理,统计处理,中途终止,测定再演算,检出器登记,注解记录,自动感度校正,mm/inch单位切换,自动测定,部分处理,图形放大缩小
检出器上下动作:检出器上下范围250mm
自动停止精度0.2um/100mm。(靴片使用时)
X轴真直度精度?.2um/100mm
检出器:触针R2um钻石头,测定?.7mN
轮廓测定
解析项目
排列:原点移动,回转,反转,移动
要素解析:点,线,圆,山,谷,交点,中点,接点,反转
刻划量:坐标差,距离,夹角
放大倍率:纵?-200倍
测定范围:纵50mm,横100mm
驱动速度?.02?.05?.1?.2?.5??mm/s。高速移??0mm/s及手动
资料数:**32000点
补助机能:自由排列组合记录,记录图刻划,巨集功能,图形放大缩小,数位圆弧补偿,过负荷防止,跳动上下,正反两方向测定
检出器上下动作范围?00mm
真直度精度:1um/100mm
检出器:R25um?0-30mN,追随角度:爬升77度,下坡87度
共同规格
测定台:(含支柱Column):測定台W600 x D315 mm,承載重?0kg,花崗岩材质
倾斜调整台:承載面積 160 x 50 mm,V 溝槽(測定方向)。水平傾?#177;3,垂直傾?#177;3Y方向移動?#177;3 mm
装置尺寸:測定部:W600 x D395 x H593/80kg
演算部:W900 x D600 x H520 / 30kg
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