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叶片光谱探测仪CI-710
CI-700系列之叶片光谱分析仪CI-710功能强大,可以非破坏性测量叶片的透射光、吸收光、反射光光谱;通过光谱可以定性、定量的研究叶片内各组分叶绿素a或b、蛋白质、糖、矿物质等含量及比例变化;直观的光谱图像和现场数据存储,为植物叶片光合作用、植物遗传特性、植物胁迫生理、植物病理等方面研究提供了迅捷的手段、/p>仪器特?/strong>
◆非常便携,适合于室内或野外使用
◆非破坏性精密地测量叶片?00~1000nm波长范围内的反射率、透射率和吸收玆/p>
◆扫描速度快,灵敏度高
◆USB接口连接UMPC数据处理终端
◆样品类型,叶片或扁平的物体
技术参?/strong>
◆测量方式:非破坏性测量叶牆/p>
◆测量光谱:叶片透射、吸收和反射光谱
◆样品类型:叶片或扁平的物体
◆检测器:CCD线性阵列探测器
◆扫描波长范围:400?000 nm
◆采样速度?.8ms-10s
◆光偏离:<0.05%?00nm;0.10%?35nm
◆分辨率?.3?0.0nmFWHM
◆采样直径:7.6 mm
◆线性修正:>99.8%
?配有CI-700LP叶夹
◆尺寸:89.1 x 63.3 x 34.4 cm
?重量?90G
仪器配置
光谱探测器、CI-700LP叶夹、光纤、UMPC数据终端、光谱分析软件、说明书、便携式仪器箰/p>
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