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产品简今/div>
PSC成立?004年,2年后其首款产?strong>植物根系X-光扫描成像分析系绞/strong>RootViz FS面世,并于今?月获?006年度美国R&D 100大奖。RootViz FS是在美国能源部创新项目资助下研发成功的一套新型、高效率、高精度、非破坏性的测量系统,用于对盆栽植物的根系进行原位成像分析,可以拍摄
根系的立体X-光照牆/strong>。是继根视系统后植物根系研究领域*激动人心的发明。美国R&D 100大奖被称?发明界的奥斯卡奖",RootViz FS刚一面世即获此大奖,足见其影响力之大、/p>
这套系统是植物根系研究领域继根视(rhizotron)系统(如加拿大Regent WinRHIZO根系分析系统)后*激动人心的发明。根视系统需要将根取出清洗后,借助扫描仪进行分析,这个过程往往会折断植物的根尖等脆弱部分,而且属于离体分析,不能进行动态监测。而植物根系X-光扫描分析系统是非破坏性的原位分析系统,可?strong>全方位分析植物根系所有部分(包括根尖等),并且可以在植物生长的不同阶段对根系的生长进行长期动态监浊/strong>。这套系统非常适合于研究植物根系对胁迫的动态响应、/p>
根系X-光成像的特?/span>
* 高分辨率的X-光立体成僎/p>
* 进行长期动态监浊/p>
* 获得原位根系角度信息
* 完全可控条件下的生理、病理实骋/p>
* 大规模快速筛选根系突变株
根系X-光扫描成像系统的主要技术参?/span>
* X-射线发生? 25KeV@800uA
* X-射线数码相机: 2002 x 2054 CMOS;GdOs Scintillator
* 精确的三维调节工作台
* 速度:平面图25?h;立体图15?h
* 范围?*根长0.6 m?*高度2.1 m
* 分辨率:20022054像素
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