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b.Q值量程分档:30?00?00?000、自动换档或手动换档、/span>
?/span> |
ZJD-B |
频率范围 |
20kHz?0MHz:/span> |
固有误差 |
??#177;满度值的2%; |
工作误差 |
??#177;满度值的2%; |
频率范围 |
10MHz?0MHz:/span> |
固有误差 |
??#177;满度值的2%; |
工作误差 |
??#177;满度值的2%、/span> |
?/span> |
ZJD-B |
直接测量范围 |
1?60pF |
主电容调节范図/span> 准确?/span> |
30?00pF 150pF以下1.5pF:/span> 150pF以上1$/span> |
?/span> |
ZJD-B |
频率范围 |
10kHz?0MHz |
频率分段 (虚拟) |
10?9.9999kHz 100?99.999kHz 1?.99999MHz 10?0MHz |
频率指示误差 |
310-51个字 |
c. 外型尺寸:(lbh)mm?80132280、/span>
调谐电容传感器,不断地将电容变化的信息送往中心控制CPU。经处理后计算出电容值,再根据频率值计算出谐振时的频率值
**行:左边 信号源频率指示,?位。右 信号源虚拟频段指示、/span>
第二行:左边 调谐电容指示值,4位 右边 电感指示值,4位、/span>
第三行:左边 Q值指示值。右 Q值合格比较状态(COMP OK COMP NO(/span>
第四行:左边 Q值量程,手动/自动(man/auto)切换指?调谐点自动搜索指礹/span>
ZJD-B型介质损耗及介电常数测试仪采用了较低的台式机箱,面板采用PC丝印面板,美观大方、/span>
仪器的频段控制,标频设定,谐振点搜索,Q值合格点设置都以轻触按键实现控制,频率调谐由数码开关完成,面板上无一可调电位器,极大地简化了操作,又提高了可靠性、/span>
2.工作频段选择按键,每按一次,切换至低一个频段工作、/span>
工作频段选择按键,每按一次,切换至高一个频段工作、/span>
3.工作频段内,标准测试频率设置按键,各段内标准测试频率见面板功能部分、/span>
4.器件谐振点搜索按键,显示屏第四行左部出现SWEEP时表示仪器正工作在自动搜索。如需退出搜索,再按此键、/span>
11. Q值量程手动方式时,低一档量程选择按键、/span>
1.~220V电源输入三芯插座,内含保险丝0.5A?20V、/span>
介质损耗及介电常数测试仪是多用途的阻抗测量仪器,为了提高测量精度,除了使测试回路本身残余参量尽可能地小,使耦合回路的频响尽可能地好之外,还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法、/span>
b.如果你需要较精确地测量,请接通电源后,预?0分钟,将调谐电容从小到大缓慢地调一次,CPU将自动对显示的电容进行温度补偿,然后再进行测试、/span>
c.调节主调电容的电容量时,特别注意当刻度调到**?小值时,不要用力继续再调.
d.被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短,足够粗,并应接触良好、可靠,以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差、/span>
e.被测件不要直接搁在面板顶部,离顶部一公分以上,必要时可用低耗损的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫、/span>
f.手不得靠近试件,以免人体感应影响造成测量误差,有屏蔽的试件,屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱、/span>
c.先调调谐电容器到谐振点,即Q表读数达**,此读数即为被测电感的有效Q?Qe),若需得到被测电感的真实Q?Qt),则应先测出线圈分布电容C0,然后照下式修正9/span>
C1是调谐电容器谐振时读数,如谐振时C1的读数很大,C0只占很小比例,则有效Q?Qe)和真实Q?QT)差别可以忽略、/span>
当Q值量程选择自动切换时,在调谐时,如遇量程自动转换,应停顿一下,待Q值稳定后,根据读数值变大或变小,确定继续调电容的方向、/span>
a.照直读法“a-c”进行,记下谐振时电容读数C1和Q1:/span>
b.转动主调电容,使Q值二次指示均为Q1?.707时,记下此时两次电容读数的差?#916;C、/span>
要想得到精确结果,则线圈的分布电容应加在C1之内,并应使主调电容作多次偏调,然后取其平均读数、/span>
测Q值较高的线圈时,Q值下降到0.707 Q1时,电容偏调很小,读数误差较大,这时可将主电容作较大偏调(10%以?,记下偏调数C和偏调后的Q值读数Q2,这时Q值表达式为:
a.按直读法“a-c”进行,记下谐振时读数C1和Q1以及频率读数f0、/span>
b.改变信号源的频率使Q值二次指示为Q1?.707(一次容性失谐,一次感性失?,记下此时二次频率读数差?#916;f。这时回路的真实QT为:
注:f是频率偏调数,Q1为谐振时Q表读数,Q2是偏调后Q表读数、/span>
b.根据线圈大约电感值,按所需选一个合适的频率以保证能谐振:/span>
f被测电感小于1H时,按上法测得电感值还应减去仪器中测试回路本身剩余电感“L0?QBG-3D L0=26nH)、/span>
若取不同C1进行多次测量后取一个平均值,则测试结果将较为准确、/span>
d.取下被测线圈,换上一个能在调谐电容器调节范围内和十倍于f1频率谐振的电感;
e.信号源调到10 f1位置,调节调谐电容器到谐振点:/span>
f.将被测线圈接在“Cx”两端,调节调谐电容器达谐振,此时视电容读数是增加还是减小。若增加,则应将振荡器频率调高些,若减小,则频率调低些、/span>
h.重复步骤“f”、“g”直到某一频率,被测线圈接上“C”两端和不接上均不改变谐振点,这一频率即为被测线圈的自然谐振频率f2,它的C0数值为9/span>
注:测量中所需辅助线圈可由LKI-l电感组提供便利、/span>
A. 在测量范围内的小于主调电容量的电容器的测野/span>
b.将调谐电容器调?*值附近,令这个电容是C1,如未知电容是小数值的,C1应调到较小电容值附近,以便达到尽可能高的分辨率:/span>
c.调信号源的频率,使测试回路谐振,令谐振器Q的读数为Q1:/span>
d.将被测电容接在“Cx”两端,调节调谐电容器,使测试电路再谐振,令新的调谐电容值为C2和指示Q值为Q2、/span>
a. 取一只适当容量的标准电容量,其容量为C3,将它接在“Cx”接线柱上、/span>
c.取下标准电容器,将被测电容接到“Cx”接线柱,调节调谐电容器到谐振,此时主调电容量读数为C2,则Cx可由下式得到9/span>
b.用一只合格元件或一只辅助线圈调谐测试回路,使Q值读数指示在所需预置Q值位置上:/span>
c.按一下Q值合格比较按键,使显示屏第三行右边显示“COMP OK或NO”,同时仪器发出呜叫声,此时该功能设置就结束了;
d.换上要测试的器件,微调谐振电容至谐振点,如果该器件的Q值大于设定的Q值,Q合格指示“OK”,同时仪器发出呜叫。如需取消已设置的合格值,只要再按一下设置键即可、/span>
如果你对电感元件无法确定它的数值时,你就可用该功能来帮你寻找出它的谐振频率点。步骤如下:
c.按一下搜索按键,显示屏左下部显示“SWEEP”,仪器就进入搜索状态、/span>
仪器?低工作频率一直搜索到**工作频率,如果你的元件谐振点在频率覆盖区间内,搜索结束后,将会自动停在元件的谐振频率点附近、/span>
如果临时要退出搜索状态,可再按一次搜索键,仪器会退出搜索操作、/span>
LKI-1电感组是**测试时作辅助电感用的,不能把这些电感当作高精度的标准电感看待。随着测试环境条件不同,测得电感器Q值和分布电容可能略有不同、/span>
介质损耗及介电常数测试仪是比较精密的阻抗测量仪器,在合理使用和注意保养情况下,才能保证长期稳定和较高的测试精度、/span>
c.本仪器保用期为18个月,如发现机械故障或失去准确度,可以原封送回本厂,免费修理、/span>
LKI-1电感组是**测试作辅助用的,它含?个屏蔽罩屏蔽的电感。这些电感具有较高的Q值。各电感的电感量等数据如附表一、/span>
电感No |
电感野/span> |
准确? |
Q值≥ |
分布电容约略倻/span> |
9 |
25mH |
5 |
70 |
10pF |
8 |
5mH |
5 |
100 |
10pF |
7 |
1mH |
5 |
100 |
14pF |
6 |
250H |
5 |
150 |
9pF |
5 |
50H |
5 |
150 |
12pF |
4 |
10H |
5 |
150 |
7pF |
3 |
2.5H |
5 |
150 |
7pF |
2 |
0.5H |
0.05H |
200 |
5pF |
1 |
0.1H |
0.05H |
100 |
5pF |
ZJD-B型介质损耗及介电常数测试仪,在测试Q值时,已对调试回路残量进行了修正,故不需要对Q值进行均值修止/span>
b.把标准Q值线圈接入介质损耗及介电常数测试仪电感接线柱上;
d.介质损耗及介电常数测试仪的Q值读数的相对误差应符合二.1.C条固有误差所规定、/span>
a. 测试时如发现干扰,应断开内部信号源,主调电容从小到大缓慢地调一次;
b.设备连接如图六所示,连接线应尽量短,尽可能减小分布电容;
测试精度?0-550pF0.1%?#177;5pF0.05pF:/span>
d.调谐电容器刻度盘上指示值与电容测试仪指示值之间误差应符合?3.条规定、/span>
b.从后面板的频率监测端用BNC电缆连至频率计数器输入端:/span>
e.介质损耗及介电常数测试仪频率指示值与频率计数器读数值间的误差应符合?4条规定、/span>
介质损耗测试装置与ZJD-B型介质损耗及介电常数测试仪配用,能对绝缘材料进行高频介质损耗角正切值和介电常数的测试、/span>
极片间距可调范围和分辨率:≥10mm?#177;0.01mm
1.被测样品要求为园形,直径25.4?7mm,这是减小因样品边缘泄漏和边缘电场引起的误差的有效办法。样品厚度可??mm之间,如太薄或太厚则测试精度就会下降,样品要尽可能平直、/span>
2.下面推荐一种能提高测试精确性的方法:准备二片厚0.05mm的园形锡膜,直径和平板电容器极片一致,锡膜两面均匀地涂上一层薄薄的凡士林,它起粘着作用,又能排除接触面之间残余空气,把
锡膜再粘在平板电容器两个极片上,粘好后,极片呈镜面状为佳+/span>
1.先要详细了解配用ZJD-B表的使用方法,操作时,要避免人体感应的影响、/span>
2.把介质损耗及介电常数测试仪主调电容置于较小电容量、/span>
3.把本测试装置插到介质损耗及介电常数测试仪测试回路的“电容”两个端子上、/span>
4.选择适当的辅助线圈插入电感接线柱。根据需要选择振荡器频率(材料的工作频率),调5.节测试电路电容器使电路谐振。(配套使用的LKI-1电感组能满足要求)、/span>
6.调节平板电容器测微杆,使二极片相接为止,读取刻度值记为DO、/span>
7.再松开二极片,把被测样品插入二极片之间,调节平板电容器,到二极片夹住样品止(注意调节时要用测微杆,以免夹得过紧或过松),这时能读取新的刻度值,记为D1,这时样品厚度D2= D1-D0、/span>
9.改变介质损耗及介电常数测试仪的主调电容,使之谐振,读得Q值、/span>
10.先顺时针方向,后逆时针方向,调节园筒电容器,读取当介质损耗及介电常数测试仪指示Q值为原值的一半时测微杆上二个刻度值,取这二个值之差,记为M1、/span>
11.再调节园筒电容器,使介质损耗及介电常数测试仪再次谐振、/span>
a. ,这 时介质损耗及介电常数测试 谐, 板电容器,b.使再谐振,读取测微杆上的读值D3,其变化值为 D4= D3-D0、/span>
式中:K为圆筒电容器线性变化率,一般为0.33 / mm、/span>
本测试装置是由精密机械构件组成的测微设备,所以在使用咋/span>
保存时要避免振动和碰撞,要求在不含腐蚀气体和干燥的环境中使用和保存,用户不能自行拆装,否则其工作性能就不能保证,如测
用精密电容测量仪?#177;0.01pF分辨率)测量园筒电容器,电容呈线性率,从0~20mm,每?mm测试一点,要求符合工作特性要求、/span>
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