薄膜硅涂布量测试�?/span>YL-X300

离型膜硅涂布量测试仪 越联仪器生产

设备的测试原理：

YL-X300通过软件程序控制，让X射线发生路产生适合的X射线去激发测试薄膜材料中的S或者其他元素，被X射线激发后变为不稳定态，高能层的电子会跃迁到空穴并同时释放特定能量被探测器接收，因每个元素都有自已特定的能量特征线，通过探测器的识别，计算机软件的计算，即可准确识别该元素，并计算出含量、�/span>

YL-X300采用了大面积的晶体硅漂移探测器，分辨率能够达�?/span>125eV，能分辨A(�?元素和Si(�?元素、�/span>

设备优势及特点：

1、测试采� 射线荧光光谱原理，测试过程无需耗材：�/span>

2、光管垂直照射，硅元素性能得到更强激发；

3、测试下限好，可准确测量0.1g/m的涂硅量；‘�/span>

4、采用大面积硅漂移探测器，测试结果极其准确；

5、快速采用新的模型算法，大大提高了轻元素的测量稳定性；

6、配置高清液晶显示器，测试过程和测试结果一目了然；

7、设备集成多个usb接口。数据和通讯传输满足多种要求：�/span>

8、空气光路的内部环境得到显著优化，大气环境一样可以直接测试；

9、一键测试，操作简单智能，测试过程使用时间更短，结果更准确、�/span>

应用方向及领域：

1、各种薄膜、离型膜、淋�?I等硅油涂布量的测定；

2、各种薄膜生产过程中Si、AI元素等比例量的测定；

3、电子产品S硫化物的残留余量的测定；

4、电子产品保护膜硅油残余量的测定、�/span>

尺寸:	467��370��336(mm)	重量:	40kg
适用范围:	薄膜、硅油涂市�/span>	样品腔尺�:	310��248��124(mm)