美国Akrometrix热变形外貌检测仪

Akrometrix �?994年成立，总部设于美国佐治亚洲亚特兰大。服务及合作伙伴遍及世界各地主要及发展中的微电子工业市场。全�?*的平整度特性测量与分析技术先� Akrometrix 是提供全面性测量解决方案的***，为全球微电子工业市场的OEM(原始设备生产)、CEM (合同设备生产)、SATS (半导体合约封装与测试服务)、及 PCB (线路板生�? 工业提供先进的基板及封装测量解决方案。Akrometrix � TherMoir�� 及LineMoir�� 设备系列能够提供广泛的平整度检测特性技术，适合于产品开发及生产应用。Akrometrix是温度效应测量技术的行业先锋；在全球二十大半导体生产商中，都采用了Akrometrix 的解决方案、�/p>

新一代表面测量和分析技�?/strong>

Akrometrix�?*TherMoir��技术是行业**的热变形翘曲分析技术�?998�?*次应用在实验室以来，当今的TherMoir��一代产品作为翘曲管理解决方案，服务于全球范围企业。研�?诊断/生产监控，无论你的客户是个体用户或是OEM，TherMoire帮助您取�?*的客户满意度。随着技术的成熟，TherMoire技术可以模拟热加工工艺和操作环境条件、同时捕捉一个完整的历史翘曲位移表现。运用这一重要的信息，获得元器�?基板翘曲度的一致�?即翘曲变形规�?来直接影响一级和二级装配产量和提高产品的可靠性、�/p>

TherMoir�� AXP 产品特性：

� **样品尺寸�?00mmX400mm

� �?秒内获得140万个数据炸�/p>

� **每秒加热2摄氏�?/p>

� 均匀对流加热和冷却来控制温度

� 高分辨率测量小型样品

� XY轴响应和CTE计算

� 运用强力冷却系统提高实验能力

� 支持�?55�?50度可靠性测试和�?80度下的回流仿眞�/p>

� 支持多样品同时测试，提高产量