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半导体行业专用仪?/a>
光学仪器及设夆/a>
制样/消解设备
电子测量仪器
测量/计量仪器
其他
无损检?无损探伤仪器
合成/反应设备
美国Royce万用推拉力性能测试?/span>
Royce作为全球**的高精度机械性能测试仪开发商,自成立之日起已经有25年的历史。产品主要用于元器件、半导体或电路板组装业等、/p>
美国Royce 650万用推拉力性能测试?/span>
Royce 650万用机械性能测试仪主要用于测试半导体器件咋/span>PCB板上元器件各种机械性能测试、/span>如引线拉力测诔/span>(Wire Bond Pull Testing),引线键合球推力测试(Wire Bond Ball Shear Testing)+/span>BGA焊球推力测试(BGA Ball Shear Testing),芯片焊接牢固度测试(Die Shear Testing)和快速焊球推力测诔/span>(High Speed Ball Shear Testing)筈/span>、/span>
特点9/span>
? 可以同时装备4个测量模块;
? 液晶显示屏可以放置在机器的左面,右面,中间,使机器摆放更加灵活液晶显示屏可以放置在机器的左面,右面,中间,使机器摆放更加灵活:/p>
? 马达驱动高度可调的显微镜适合于不同高度的操作者;
? 显微镜光源为光纤LED,冷光源,不发热,可随意弯曲:/p>
? 305x155mm的样品台可以承载300mm的晶圆,框架或者基板;
? 快速更换的测试夹具?*可以承受200kg推力:/p>
? 集成在机器内部的工业计算机使系统的可靠性进一步提升并且节省空间;
? 舒适且高精度的样品台控制装置、/p>
? 内部计算机:集成高性能的工业计算机,具备DVD-CD RW刻录光驱、USB接口、网口、/p>
? 伺服马达驱动的样品平台:移动范围305mm X 155mm
? X,Y轴的分辨率:1微米
? Z轴分辨率?.1微米
? 系统精度?/- 0.1%
? 回步精度?5微米移动不超?微米
? 测试线弧高度:具夆/p>
? 测试力曲线图:具夆/p>
? 国际标准:符合美军标883,美军标750,ASTM F1269,JESD22-B117,JESD22- B116和CE认证。具备ROHS无铅认证、/p>
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- 产品分类
- 太阳能模拟器
- 红外透射光谱?/a>
- PIXIS科学级CCD探测?/a>
- PI-MAX4系列第四代像增强探测器ICCD
- 生物电子倍增相机
- 万用推拉力性能测试?/a>
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- 裂缝测试?000
- PIXIS科学级CCD探测?/a>
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- SU-8 2000?000系列光刻胵/a>
- PI-MAX4系列第四代像增强探测器ICCD
- KMPR 1000系列光刻胵/a>