无锡凡远光电科技有限公司
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逸出功能谱仪--**
逸出功能谱仪主要参数
测量原理 |
PYS |
||
测量范围'/span>eV(/span> |
3.40 - 7.50 |
4.00 - 9.54 |
|
*小测量间隔(eV(/span> |
0.01 |
||
重复性(标准偏差(/span> |
0.02 |
0.015 |
|
热机时间'/span>Min(/span> |
25 |
||
光斑尺寸'/span>mm(/span> |
1×2 |
||
可测样品尺寸 |
W60×H50 mm'/span>Max(/span> D10 mm'/span>Max(/span> |
||
测量环境 |
空气、氮气、真穹/span> |
||
可测样品类型 |
粉末、薄膜、金属材料、半导体材料?/span>ITO?/span>FTO?/span>OLED有机光电材料、有机太阳能材料、钙钛矿材料、富勒烯/石墨烯衍生物、碳纳米材料、锂电池材料等、/span> |
陣/span>IPS-3可测样品范围外,还包括:TCNQ衍生物材斘/span>?/span>QD光电材料、无机太阳电池材料、金属氧化物/硫化物材料、水氧敏感型材料等、/span> |
逸出功能谱仪-实测案例
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企业名称
无锡凡远光电科技有限公司企业类型
信用代码
91320192MA1MTHT08D法人代表
注册地址
成立日期
注册资本
有效期限
经营范围