1. |
讽/strong>夆/strong>名称9/strong> |
霍尔效应测试?/td> |
2. |
功能描述9/strong> |
测量半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数 |
3. |
设备明细9/strong> |
3-1 |
测试范围9/td> |
Si SiGe SiC GaAs InGaAs InP GaN (N Type & P Type)等材质的半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数 |
3-2 |
磁场9/td> |
3-2-1 |
磁场强度9/td> |
0.5T 电磁 ?.5T 永磁 / 1.4T 电磁 两种磁场可选) |
3-2-2 |
磁场类型9/td> |
电磁佒/td> |
3-2-3 |
磁场均匀性: |
磁场不均匀性<1 % |
3-3 |
测试样品9/td> |
3-3-1 |
样品测试仓: |
全封闭、带玻璃窗口 |
3-4 |
度: |
3-4-1 |
温度区域9/td> |
80K ~730K |
3-4-2 |
温控精度9/td> |
0.1K |
3-4-3 |
温控稳定性: |
0.1 K |
3-5 |
电阻率范围: |
10-6~1013Ohm*cm |
3-6 |
电阻范围9/td> |
10 m Ohms~ 10G Ohms |
3-7 |
载流子浓度: |
102~1022cm-3 |
3-8 |
迁移率: |
10-2~109cm2/volt*sec |
3-9 |
输入电流9/td> |
3-9-1 |
电流范围9/td> |
0.1 pA~10mA |
3-9-2 |
电流精度9/td> |
2% |
3-10 |
输入电压9/td> |
3-10-1 |
电压范围9/td> |
2.5V?小可测到610-6V |
3-10-2 |
电压分辨率: |
310-7V |
3-10-3 |
电压精度9/td> |
2% |