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MMR变温变磁场霍尔效应测试仪?/div>
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美国
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产品简今/div>
1. 讽/strong>夆/strong>名称9/strong> 霍尔效应测试?/td>
2. 功能描述9/strong> 测量半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数
3. 设备明细9/strong>
3-1 测试范围9/td> Si SiGe SiC GaAs InGaAs InP GaN (N Type & P Type)等材质的半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数
3-2 磁场9/td>
3-2-1 磁场强度9/td> 0.5T 电磁 ?.5T 永磁 / 1.4T 电磁 两种磁场可选)
3-2-2 磁场类型9/td> 电磁佒/td>
3-2-3 磁场均匀性: 磁场不均匀性<1 %
3-3 测试样品9/td>
3-3-1 样品测试仓: 全封闭、带玻璃窗口
3-4 度:
3-4-1 温度区域9/td> 80K ~730K
3-4-2 温控精度9/td> 0.1K
3-4-3 温控稳定性: 0.1 K
3-5 电阻率范围: 10-6~1013Ohm*cm
3-6 电阻范围9/td> 10 m Ohms~ 10G Ohms
3-7 载流子浓度: 102~1022cm-3
3-8 迁移率: 10-2~109cm2/volt*sec
3-9 输入电流9/td>
3-9-1 电流范围9/td> 0.1 pA~10mA
3-9-2 电流精度9/td> 2%
3-10 输入电压9/td>
3-10-1 电压范围9/td> 2.5V?小可测到610-6V
3-10-2 电压分辨率: 310-7V
3-10-3 电压精度9/td> 2%
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