RoHs/卤素（无卤）检测系绞�/span>

型号X-5600

产品概述９�/span>

X-5600型RoHS测试仪是一种体现X射线荧光分析技�?*进展的能量色散X射线荧光光谱仪。它采用低功玆�/span>水制冶�/span>小型X光管为激发源，电制冷硅半导体探测器为探测单元，再加上我公司专门开发的独特分析方法皃�/span>应用软件，充分发挥各部件的优异性能，保证了整台仪器的高分辨率及通用适应性。任何需要多元素同时分析的地方， 正是它大有作为之处、�/span>

主要应用于电� 、五金、包装等行业材料中的有害元素检测、玩具、PVC、陶瓷等行业的卤素（即无卤检测）和RoHS检测；也可用于电镀行业的镀层分析、玻璃、皮革等行业及质检商检机构、�/span>

产品特点９�/span>

1.无损检浊�/span>：无需制样，无损、快速分枏�/span>

2.仪器双箱体结枃�/span>９�/span>有效屏蔽干扰，增加仪器整体稳定性，保障测量结果的准�?/span>

3.三重防辐射系绞�/span>：样品仓打开，X光管快门自动闭锁；更换样品时X光管自动切断电压电流；仪器多层屏蔽舱盖，有效防止X射线外溢

4.银铜双峰位自调系绞�/span>：银、铜双峰位同时自动校准，当仪器峰位发生偏移时，随时修正工作曲线，软件可自动调整并恢复仪器到正常测量状态，避免系统偏差带来误差，随时保证测量数据精准（同行业中**采取软件双峰位全自动调整系统）；

5.温度控制系统：内部采用风冷、水冷，油冷三重冷却系统�?*限度降低X光管工作温度，有效延长X光管使用寿命，且保证仪器长时间工作稳定，测量精度更准确；

6.操作软件：开放式操作软件，用户可根据自己的需求进行二次开发，实现仪器�?*效用，使一机多能；

7.报告格式：输出报告格式可根据用户要求独立设计，用户也可以自行二次开叐�/span>

8.定量分析方法：基本参数法、理论Alpha系数法、经验系数法、多元回归法等（国内同行�?*采取此类综合计算方法）；

9.定性分析方法：元素自动寻峰、Kl谱线标记法、谱峰比对法筈�/span>

10.分析强度计算方式采用，毛强度、净强度、解谱、峰背比及内标比，根据不同条件可选择*适当的强度计算方式、�/span>

11.镀层检测功胼�/span>：可对不同基体上的不同金属镀层进行多层检浊�/span>

12.选配：可选配移动平台，方便物体移动，多点检浊�/span>

技术参�?/span>９�/span>

1�?/span>元素分析范围：从铝（13号元素）—铀�?2号元素）：�/span>

2�?/span>含量分析范围�?mg/Kg - 10^6mg/Kg�?ppm=1 mg/Kg（�/span>

3�?/span>测量样品型态多栶�/span>：固体、粉末、液体；

4�?/span>测量时间:快速检测模�?秒，正常检测模�?0-180秒，可由用户自由选择

5�?/span>分析检出限９�/span>

铬Cr的检出限�?.1ppm：�/span>

汞Hg的检出限�?.2ppm：�/span>

铅Pb的检出限�?.2ppm：�/span>

溴Br的检出限�?.3ppm：�/span>

镉Cd的检出限�?.8ppm

氯Cl的检出限�?2.6ppm

针对三星内部标准，加测锑Sb元素，检出限4.3ppm

6�?/span>激发源：采用低能耗大功率 X 射线管，**电压50kV�?*电流1mA：�/span>

7�?/span>滤波系统+准直器：10种滤波片�?种准直器自动切换组合系统，提升检测范围和精度，并对不同元素采用有针对性的检测条仵�/span>

8�?/span>高压电源�?*50W�?0KV�?mA：�/span>

9�?/span>探测�?/span>：美国原装进口Amptek公司电制冷X-123 SIPIN半导体探测器：�/span>

10.探测面积�?mm2

11�?/span>分辨率：55Fe的能量为5.9Kev的MnK��线，分辨率优�?29eV；对�?2us的形成时间，半高宽为129eV

12.硅活化区厚度�?00��m

13.探测器窗叢�/span>：铍窗，12.5��m厙�/span>

14.重复测量稳定性：10次连续测量的标准偏差小于0.05%

15�?/span>多道分析�?/span>�?048道；

16�?/span>摄像夳�/span>：CCD光学镜头：�/span>

17�?/span>样品成像定位系统：内置自感光500万像素摄像头及定位软件，方便样品的局部定位测量；

18�?/span>工作电源：交� 220V/50Hz

19�?/span>样品仓尺寷�/span>�?45��335��120（mm（�/span>

20�?/span>外型尺寸�?00��520��370（mm（�/span>

21�?/span>仪器重量：约39公斤

22�?/span>工作环境温度９�/span>18℃�?8ℂ�/span>

23�?/span>工作环境相对湿度：≤70%

安全对比数据说明９�/span>

比对数据９�/span>

表一�?/span>欧标EC681K测试数据对比�（单位：mg/Kg（�/span>

元素	镉（Cd（�/span>	Pb(�?	汞（Hg（�/span>	总铬（Cr（�/span>	总溴(Br)	单位� mg/Kg�?ppm=1mg/Kg)
欧标EC681K	137	98	23.7	100	770
博智X-5600	135.6	101.71	21.36	103.8	775.6
与欧标误差倻�/span>	-1.4	3.71	-2.34	3.8	5.6
进口公司仪器	146.45	121.45	31.95	75.25	882.35
与欧标误差倻�/span>	9.45	23.45	8.25	-24.75	112.35

表二、欧盟标样EC681K、EC680K测量结果�（单位：mg/Kg（�/span>

元素	镉（Cd（�/span>	Pb(�?	汞（Hg（�/span>	总铬（Cr（�/span>	总溴(Br)	单位：mg/Kg�?ppm=1mg/Kg)
EC681K(**�?	138.66	109.04	26.64	102.08	777.33
EC681K(第二�?	138.45	108.74	25.33	109.75	775.72
EC681K(第三�?	136.46	108.91	27.53	104	775.64
EC681K标准数据	137	98	23.7	100	770
EC680k(**�?	18.06	13.57	7.55	18.61	101.51
EC680k(第二�?	17.13	12.45	6.34	20.57	103.15
EC680k(第三�?	18.56	15.97	6.69	17.67	105.75
EC680k标准数据	19.6	13.6	4.64	20.2	96

辐射安全报告

测量炸�/span>	空气比释动能率测值（��Sv/h（�/span>
仪器前表�?cm	小于0.6
仪器后表�?cm	小于0.6
仪器左表�?cm	小于0.6
仪器右表�?cm	小于0.6
仪器上表�?cm	小于0.6
仪器下表�?cm	小于0.6
操作佌�/span>	小于0.6

依据《X射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准》GBZ115-2002，空气比释动能率低于2.5��Sv/h对人体不够成伤害、�/span>