用于表面三维微观形貌，粗糙度和微观结构的测量与测诔�/strong>

光学三维测头 WM | RS-C 是一种表面测量白光干涉测头，可用于获取、检测和测量微观形貌、粗糙度和微观精细结构。WM | RS-C 将三维表面以点云或三角形� STL 网格再现，从而实现符� DIN EN ISO 的二维和三维粗糙度评估。该款测头的特定优势在于垂直和水平方向高分辨率的表面测量、�/p>

光学三维测头 WM | RS-C 利用白光的短相干长度以高分辨率垂直测量表面。它使用了具有全高清分辨率的内置 GigE 相机和优化光谱分布的集成 LED。干涉测头通常配有可更换的 Mirau 镜头组。在桌面版本中，干涉测头与压电驱动执行器配合使用，对微观形貌进行高分辨率扫描、�/p>

产品特点

� 垂直和横向均具备高分辨率

� 多面片缝吇�/p>

� 测头尺寸導�/p>

� 独立运行 & 可在机器中互换（多测头接口）

� 完全集成� WM | PointMaster 软件�?/p>

� 带有 TCP-/IP 通信接口的可选图像传感器接口，可实现测头自动运行

� 与温�?nbsp; CORE 系列机型兼容

应用领域

在组件生产过程中，质量保证的重点不单单是尺寸精度和公差，还必须检查组件的表面功能特性。这就是 WM | RS-C 发挥作用的地方、�/p>

使用 WM | RS-C，可以分析制造表面的质量及其功能，例如密封、润滑、摩擦和耐磨性能、�/p>

� 质量控制和测量室

� 医疗技�?/p>

� 金属加工和精加工

� 光学器件和透镜生产

� 航空领域

� 粗糙度测量和车间应用

� 半导体工业与芯片生产

� 涂料分析

� 自动化技�?/p>

� 研究机构与大学应�?/p>

粗糙度标准：超精�?nbsp; 珩磨结构特点

X射线探测�?nbsp; 抛光表面

优点一觇�/span>

� 高效玆�/strong>

可互换系� | 完全集成�?nbsp; WM | Quartis | 在组件坐标系中工� | 可完全集成于自动测量序列�?/p>

� 高灵活�?/strong>

可以像接触式测头一样更� | 可集成至五轴测量机温�?nbsp; CORE 系列� | 可用作独立装�?/p>