二次电子图象分辨玆�/td>	0.9nm@15kV	放大倍数	1-2,000,000x
电子光学	BrightBeam� 电子光学镜筒	样品�?/td>	超大样品台选配
探测�?/td>	多探测器系统	背散射电子图像分辨率	2.0nm@30kV(低真空模�?
加速电厊�/td>	50V-30kV

产地属�?/td>	欧洲	仪器种类	场发尃�/td>
价格范围	200�?250丆�/td>

全新设计的S8000超高分辨场发射扫描电镜可以提�?***的图像质量，具有强大的扩展分析能力，能够满足现今工业研发和科研的所有需求，不仅适用于高端的纳米分析应用，也给操作者带来舒适、高效的使用体验、�br/>

S8000 FE-SEM的优点：

• 新一代镜筒内电子加速、减速技术，保证了复杂样品的低电压高分辨观测能力

• **配置的静�?电磁复合物镜，物镜无磁场外泄，实现磁性样品高分辨成像及分枏�/span>

• 配置4个新一代探测器，可实现9种图像观测，对样品信息的采集更加全面

• 配置大型样品室，有超�?0个扩展接口，为原位观测、分析创造了良好的工作环墂�/span>

• 可以配置TESCAN自有或第三方的多种扩展分析附件，如EDS、EBSD、CL、EBL，并**实现与Raman联用
  

创新的电子光学镜筒，使电镜拥月�/span>更加出色的超高分辨率

TESCAN S8000配置�?*的BrightBeam™镜筒，实现了无磁场超高分辨成像，可�?*化的实现各种分析，包括磁性样品的分析。新型镜筒中的电子光路设计增强了低能量电子成像分辨率，特别适合对电子束敏感样品和不导电样品的分析、�/span>

另外，EquiPower™透镜技术可有效减少能量损耗并保证电子镜筒的稳定性、�/span>

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BrightBeam™电子光学镜筒及探测器系绞�/span>
（A）Axial detector (In-Beam)
（B）Multidetector (In-Beam)
（C）E-T detector (In-Chamber)
（D）Retractable BSE (In-Chamber)


配备**的多种探测器，更好的�?/span>面灵敏度和对比度

S8000可配�?*的多种探测器，包括透镜内Axial detector 以及 Multidetector，可选择不同角度和不同能量来收集信号，体现更多种类的信息，同时获得更好的表面灵敏度和对比度、�br/>