4英寸半绝缘型衬底
技术成枛/p>
零微管密度控制技?/p>
单一晶型控制技?/p>
包裹物控制技?/p>
电阻率控制技?/p>
杂质调控技?/p>
衬底台阶宽度控制技?/p>
直径 | 99.5 mm-100.0 mm | |
晶型 | 4H | |
厚度 | 500 μm±15 μm | |
晶片方向 | 无偏转角度:?lt;0001>偏转 ± 0.5° | |
微管密度 | 1 cm-2 | |
电阻玆/td> | 1 E10 Ω·cm | |
主定位边方向 | {10-10} ±5.0° | |
主定位边长度 | 32.5 mm ± 2.0 mm | |
次定位边长度 | 18.0 mm ± 2.0 mm | |
次定位边方向 | 硅面朝上:从主定位边顺时针旋 90° ± 5.0° | |
边缘去除 | 3 mm | |
局部厚度变?总厚度变?弯曲?翘曲?/td> | ?.5 μm/? μm/?5 μm/?0 μm | |
表面粗糙?/td> | 抛光 Ra 1 nm | |
CMP Ra 0.2 nm | ||
边缘裂纹(强光灯观测(/td> | —–/em> | |
六方空洞(强光灯观测(/td> | 累计面积 0.05% | |
多型(强光灯观测(/td> | —–/em> | |
目测包裹物(日光灯观测) | 累计面积 0.05% | |
硅面划痕(强光灯观测(/td> | —–/em> | |
崩边(强光灯观测(/td> | 不允许宽度≥ 0.2 mm,深度≥ 0.2 mm | |
硅面污染物(强光灯观测) | —–/em> | |
包装 | 多片卡塞/单片盒包裄/td> |
半绝缘碳化硅衬底是半绝缘碳化硅晶体经过切割、研磨、抛光、清洗等工序加工形成的单晶薄片。单晶衬底薄片作为第三代半导体的重要原材料,经过异质外延生长、器件制造等环节,可制成碳化硅基射频器件,是第三代半导体产业发展的重要基础材料。为满足客户?英寸产品的需求,公司为国内外客户批量提供具有高性价比的4英寸半绝缘型衬底产品、/p>
下游产品与应?/p>
通过在半绝缘型碳化硅衬底上生长氮化镓异质外延层,制得碳化硅基氮化镓外延片,通过晶圆制造、封装检测,可进一步制成微波射频器件,主要应用于射频领域,例如5G通讯、相控阵雷达、无线电探测器等、/p>