新型数字化谱仪：DSPEC-LF＋�/strong>-jr2.0� -Pro & DigiDART

基本特征９�/em>

小巧的外观，强大的功能、�/strong>

一切控制与参数设置由计算机进行、�/strong>

高的数据通过率：大于100Kcps (DSPEC-Pro大于130Kcps)、�/strong>

数字化稳谱、数字化自动极零、自�?*化、内置虚拟示波器和数字化门控基线恢复等功能�

用户可预置多个核素的MDA，在所有MDA满足时自动终止计数、�/strong>统一的“即插即用”式背面板接口，与DIM/Smart-1匹配，相互间具有良好的互换性与兼容

数字化自动极零：

自动极零技术主要基于解决（中）高计数率情况下分辨率变差的问题。该技�?早与门控基线恢复和脉冲抗堆积功能一起，集中应用于ORTEC 672主放、�/p>

自动**化功能：对于样品活度水平完全未知的情况，可以通过软件快速设置“自�?*化”功能，由系统快速选定**的参数设置、�/p>

零死时间校正（ZDT）：

在谱获取中，对于中子活化分析中计数率快速衰减、或是在线测量时突然出现的尖峰信号的情况，ZDT方法采用ORTEC精密的Gedcke-Hale时钟进行零死时间校正，以实现无损失计数（Loss-free Counting）。由软件可以快速选定这一功能。经校正的谱图和未经校正的谱图可以同时保存，以作进一步分析。ZDT在显示校正后的谱图的同时给出与之对应的不确定度、�/p>

低频抑制器（LFR）：

LFR是一项新型的数字化滤波技术，主要用来消除来自于机械制冷、电源电压波动或接地不良等外部因素导致的低频噪声信号，从而使系统的分辨率得到进一步改善。用户可根据情况选择开启或关闭此项功能、�/p>

弹道亏损校正/虚拟示波器：(-Pro�?50)

在系统采用相对效率较高的HPGe探测器或遭遇中子损伤的探测器时，弹道亏损效应（Ballistic Deficit）常导致分辨率变差甚至恶化（尤其在高能端），ORTEC数字化谱仪可以通过其内置虚拟示波器轻松解决这一问题：比如对207%的HPGe探测器，将平顶时间设�?.8��s，就能使分辨率达到理想水平。当然，也可以结合软件通过自动**化功能轻松完成参数设置、�/p>

技术参数：

* 大数据通过玆� 大于100kcps; DSPEC-Pro在“增强通过率”模式下大于130kcps、�/p>

增益：粗调：由计算机选定�?�?�?�?�?6，或32；细调：由计算机设定�?.45�?.00、�/p>

成形时间常数：上升时间：0.8�?3 ms可调，每�?.2ms，由计算机选择；平顶：范围�?.3�?.4ms，每�?.1ms，由计算机选择。在自动**化功能下自动调整、�/p>

存储器分段（系统变换增益）：由计算机选择�?6�?84�?192�?096�?048�?024�?12道、�/p>

非线性：积分非线性：� ��0.025%；微分非线性：� ��1%

数字化稳谱器: 由计算机控制并稳定增益和零点、�/p>

温度系数：增盉�<35ppm> 过载恢复：在**增益时，能在2.5倍的非过载脉冲宽度内�?000倍过载恢复至额定输出�?%以内、�/p>

脉冲抗堆积：自动设定域值，脉冲对分辨率�?00ns、�/p>

自动数字化极零调节：由计算机控制，可以手动或自动设定，远程模拟示波器方式诊断、�/p>

LLD/ULD：数字下域电平甄别器，以道为单位设置，LLD以下所有各道的计数被卡掉；数字上域电平甄别器， ULD以上所有各道的计数被卡掉� 数字化门� � 线恢复器：可由计算机调节恢复频率（高、低或自动）、�/p>

数据存储器：16�?84道不丢失数据存储器，每道容量2³¹-1�?0亿）计数、�/p>

计数率显示：在谱仪或电脑屏幕上显示计数率、�/p>

死时间校正：按Gedcke-Hale 法活时校正，精度（随峰面积而变化）� <+ 3% ( 0 � 50�?00 cps)、�/p>

显示/接口�?40�?60像素(pixel)背光液晶显示(LCD)提供谱的活显示和状态信息。USB2.0接口、�/p>

尺寸与重量：-LF�?jr2.0� -Pro �?4.9D��20.3W��8.1 H cm� 1.0kg; DIM�?1.2��3.13��6.5 cm� 240gDigiDart�?0��10��7.5cm；重量：�?00克（含电池）：�/p>

工作条件�?LF�?jr2.0� -Pro 5��C�?0��C（包括LCD显示）。DigiDART -10��C�?0��C

操作系统：Windows 98/2000/XP/Vista/NT

DigiDART是一款便携式谱仪，但其性能指标好不逊色于实验室谱仪，完全可以代替实验室谱仪工作、�/p>