DECTRIS混合像素光子计数X射线探测器EIGER X

1�?span>产品特点９�/span>

我们一直持续致力于不断的探索研究去突破技术壁垒，以获得更为高效的测试过程及测试装置，使测试性能趋于**。目前我们在同步仪器及科学研究领域所取得的巨大成就已充分证明了这一点、�/span>

新型的EIGER X 系列探测器可以为要求极为苛刻的同步应用提�?*的探测性能。具有连续读数能力的千赫兹帧速率的成像能力为时分类实验和XPCS提供了一种全新的手段，使得像ptychography类的慢速扫描成像技术成为可能。高分辨率和连续的衍射实验受益于较小的成像尺寸，通过X射线的直接转换可以获�?*的点扩散函数。在理想情况下每单元面积�?*计数速率可以与持续增加的波速线亮度相匹配、�/span>

2�?span>核心优势９�/span>

-混合成像计数：单光子成像计数模式下的X射线直接转换能力

-千赫帧速率工作周期> 99%

-3��s时间下的连续采集模式

-5��m像素尺寸的高空间分辨玆�/span>

-优秀的点扩散函数

-计数器高达每平方毫米每秒5亿张

-无读出噪声和暗电�?/span>

-极其紧凑的外売�/span>

3�?span>应用领域９�/span>

-X射线光子相关光谱(XPCS)

-Ptychography(叠层衍射)成像技�?/span>

-时间分辨实验

-大分子晶体学(MX)

-单晶衍射(SCD)

-粉末衍射(PD)

-表面衍射

-小广�?X光散�?粉煤�?�?

-X射线成像

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4�?span>技术参�?/span>９�/span>

EIGER X	500K	1M	4M	9M	16M
探测器模块数野�/span>	1	1 x 2	2 x 4	3 x 6	4 x 8
有效面积：宽x� [mm2]	77.2 x 38.6	77.2 X 79.9	155.2 x 162.5	233.2 x 245.2	311.2 x 327.8
像素大小 [��m2]	75 x 75
总像素数野�/span>	1030x514= 529�?20	1030x1065= 1�?96�?50	2070 x 2167= 4�?85�?90	3110 x 3269= 10�?66�?90	4150X4371= 18�?39�?50
间隙宽度� 水平/垂直（像素）	-/-	-/37	10 / 37	10 / 37	10 / 37
非灵敏区 [ % ]	0	3.5	5.6	6.3	6.6
缺陷像素	<0.03%
**帧频* [Hz]	3000�?500**�?000**	3000	750	238	133
计数器深� [ bit ]	12� 8� 4	12	12	12	12
读出时间	连续读数�?��s死区时间，工作循�?99%***
点扩散函�?/span>	1 pixel
探测器厚� [��m]	450
阈值能� [keV]	2.7-18
**计数� [phts/s/mm2]	5?108
动态范� [bit]	16 �?2
数据格式	HDF5 / NeXus
尺寸（WHD）[mm3]	114 x 92 x 242	114 x 133 x 240	235 x 237 x 372	340 x 370 x 500	400 x 430 x 500
重量 [kg]	3.3	3.9	15	41	55
功� [w]	70	75	300	750	1200