X射线单晶衍射�?/span>

X-ray Single Crystal Diffractometer System

1．用途及特点９�/span>

测定新化合物（晶态）分子的准确三维空间（包括键长、键角、构型、构象乃至成键电子密度）及分子在晶格中的实际排列状况；可以提供晶体的晶胞参数、所属空间群、晶体分子结构、分子间氢键和弱作用的信息以及分子的构型及构象等结构信息。它广泛用于化学晶体学、分子生物学、药物学、矿物学和材料科学等方面的分析研究、�/span>

精确测定无机物、有机物和金属配合物等结晶物质的三维空间结构和电子云密度，分析孪晶、无公度晶体、准晶等特殊材料结构；可精确测定无机分子、有机分子、矿质材料以及大生物分子的结构，提供全面的结构数据，并可按不同要求提供各种结构图、动态图、�/span>

2.系统总体构成９�/span>

高性能混合像素光子直读探测器；

kappa四圆测角仪；

X射线金属陶瓷管（Mo戕�/span>Cu）；

X射线发生器；

单毛细管光学器件：�/span>

晶体样品液氮低温系统：�/span>

晶体样品监视系统：�/span>

X光管的循环冷却水装置：�/span>

计算机控制系统；

系统控制和数据收集及数据分析软件、�/span>

3.主要技术参数：

3.1 X射线发生器和光路系统９�/span>

3.1.1 X射线发生�?*输出功率: 3000W：�/span>

3.1.2**管电厊�/span>/通道９�/span>60 KV：�/span>

3.1.3**管电�?/span>/通道９�/span>50 ma：�/span>

3.1.4电流电压稳定度：8小时内变化不超过��0.1%：�/span>

3.1.5 X射线管保护：过电压、过电流、冷却水异常保护：�/span>

3.2测角仪：

3.2.1类型: kappa四圆测角仪，步进马达定位，四个角度均可自由转动，满足常规晶体结构分析和专业晶体学研究需要；

3.2.2角度分辨率：Omega咋�/span>Theta 0.0001度，Kappa 0.001度，Phi 0.001度；

3.2.3扫描速度范围0.005 - 3.0�?/span>/秒；

3.2.4 theta臂具有通用性，与公司所提供的其他探测器兼容：�/span>

3.3.晶体对中监视系统９�/span>CCD摄像头加放大镜头，安装在仪器内部用于样品对心与调整；

3.4探测器：DECTRIS Pilatus混合像素光子计数探测器；

3.5高性能计算机实现仪器控制及数据采集：�/span>

3.6系统控制和数据处理软件：包括控制、维护、数据收集、数据还原和数据分析程序，以及处理孪晶和晶面吸收校正等功能。收集数据和还原数据同步进行：�/span>

3.7液氮低温系统：温度范図�/span>120 - 400 K，控温精度：��0.1 K、�/span>