苏州科蒂斯怀特工业设备有限公号/div>
首页 > 产品中心 > 原子力显微镜 > 全自动型原子力显微镜 AFM5500M
产品简今/div>

AFM5500M是操作性和测量精度大幅提高,配?英寸自动马达台的全自动型原子力显微镜。设备在悬臂更换,激光对中,测试参数设置等环节上提供全自动操作平台。新开发的高精度扫描器和低噪音3轴感应器使测量精度大幅提高。并且,通过SEM-AFM共享坐标样品台可轻松实现同一视野的相互观察・分析、/span>


1. 自动化功胼/h3>
  • 高度集成自动化功能追求高效率检浊/p>

  • 降低检测中的人为操作误?/p>

. 可靠?/h3>

排除机械原因造成的误?/h4>
  • 大范围水平扫揎/p>

  • 采用管型扫描器的原子力显微镜,针对扫描器圆弧运动所产生的曲面,通常通过软件校正方式获得平面数据。但是,用软件校正方式不能完全消除扫描器圆弧运动的影响,图片上经常发生扭曲效果、br/>AFM5500M搭载?*研发的水平扫描器,可实现不受圆弧运动影响的准确测试、/p>

  • 高精角度测量

  • 普通的原子力显微镜所采用的扫描器,在竖直伸缩的时候,会发生弯曲(crosstalk)。这是图像在水平方向产生形貌误差的直接原因、br/>AFM5500M中搭载的全新扫描器,在竖直方向上不会发生弯曲(crosstalk ,可以得到水平方向没有扭曲影响的正确图像、/p>

3. 融合?/h3>

亲密融合其他检测分析方弎/h4>

通过SEM-AFM的共享坐标样品台,可实现在同一视野快速的观察・分析样品的表面形貌,结构,成分,物理特性等、/p>

  • 通过分析AFM图像可以判断,SEM对比度表征石墨烯层的厚薄、/p>

  • 石墨烯层数不同导致表面电位(功函数)的反差、/p>

  • SEM图像对比度不同,可以通过SPM的高精度3D形貌测量和物理特性分析找到其原因、/p>

AFM5500M 主机
马达?/th> 自动精密马达?br/>**观察范围?00 mm ?英寸)全埞br/>马达台移动范围:XY ± 50 mm、Z ?1 mm
*小步距:XY 2 µm、Z 0.04 µm
**样品尺寸 直径?00 mm?英寸)、厚度:20 mm
样品重量? kg
扫描范围 200 µm x 200 µm x 15 µm (XY:闭环控 / Z:感应器监控(/td>
RMS噪音水平* 0.04 nm 以下(高分辨率模式)
复位精度* XY: ?5 nm(3σ、计?0 μm的标准间? / Z: ? nm (3σ、计?00 nm 的标准深?
XY直角?/th> ±0.5°
BOW* 2 nm/50 µm 以下
检测方弎/th> 激光检测(低干涉光学系统)
光学显微镛/th> 放大倍率:x1 x7
视野范围?10 µm x 650 µm 130 µm x 90 µm
显示倍率:x465 x3,255?7英寸显示器)
减震?/th> 台式主动减震 500 mm(W x 600 mm (D x 84 mm (H)、约28 kg
防音?/th> 750 mm(W) x 877 mm (D) x 1400 mm(H) 237 kg
大小・重野/th> 400 mm(W x 526 mm(D x 550 mm(H)、约 90 kg
  • * 参数与设备配置及放置环境相关、/p>

AFM5500M 专用原子力显微镜工作竘/caption>
OS Windows7
RealTune®II 自动调节悬臂振幅、接触力、扫描速率以及信号反馈
操作画面 操作导航功能、多窗口显示功能(测?分析)?D图像叠加功能、扫描范?测量履历显示功能、数据批处理分析功能、探针评估功胼/td>
X, Y, Z扫描驱动电压 0?50 V
时时测试(像素点(/th> 4画面?*2,048 x 2,048(br/>2画面?*4,096 x 4,096(/td>
长方形扫揎/th> 2:1?:1?:1?6:1?2:1?4:1?28:1?56:1?12:1?,024:1
分析软件 3D显示功能、粗糙度分析、截面分析、平均截面分枏/td>
自动控制功能 自动更换悬臂、自动激光对?/td>
大小・重野/th> 340 mm(W x 503 mm(D x 550 mm(H)、约 34 kg
电源 AC100 240 V ±10% 交流
测试模式 标配:AFM、DFM、PM(相位)、FFM 选配:SIS形貌、SIS物理特性、LM-FFM、VE-AFM、Adhesion、Current、Pico-Current、SSRM、PRM、KFM、EFM(AC)、EFM(DC)、MFM
  • * WINDOWS 是、美 Microsoft Corporation 在美国及美国以外国家注册商标、/p>

  • * RealTune是日立高新科学公司在日本、美国以及欧洲的注册商标、/p>

选配项:SEM-AFM联用系统
可适用的日立SEM型号 SU8240、SU8230(H36 mm型)、SU8220(H29 mm型)
样品台大導/th> 41 mm(W x 28 mm(D x 16 mm (H(/td>
**样品尺寸 Φ20 mm x 7 mm
对中精度 ±10 µm (AFM对中精度(/td>



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