随着快速数据采集和数据处理技术的发展，电子显微镜进入了一个不仅重视数据质量，而且注重其采集过程的时代。SU8700作为一款面向新时代的SEM，在日立电镜贯有的高图像质量和高稳定性的基础上，增加了包括自动获取数据等高通量的功能、�/span>

超高分辨观察和超强分析能劚�/h3>

日立的高亮度肖特基场发射电子枪可同时支持超高分辨观察和快速微束分析。在不使用样品台减速的情况下，仅用0.1 kV的低加速电压仍可进行高分辨观察，适应更多应用场景。同时，可搭配多种新型探测器和其他丰富的选配项，满足更多的观测需求、�/p>

先进的自动化功能*

EM Flow Creator 允许客户创建连续图像采集的自动化工作流程。EM Flow Creator将不同的SEM功能定义为图形化的模块，如设置放大倍率、移动样品位置、调节焦距和明暗对比度等。用户可以通过简单的鼠标拖拽，将这些模块按逻辑顺序组成一个工作程序。经过调试和确认后，该程序便可以在每次调用时自动获得高质量、重现性好的图像数据、�/p>

强大的显示及交互特�?/h3>

原生支持双显示器，提供灵活、高效的操作空间、�br/>6通道同时显示与保存，实现快速的多信号观测与采集，带来更多信息、�br/>单次扫描**支持 40,960×30,720 的超高像紟�span style="margin: auto 1px; font-size: 13.2768px; vertical-align: 0.45em; line-height: 13.2768px;">*

电子光学系统	二次电子分辨玆�/td>	0.8 nm@15 kV
		0.9 nm@1 kV
	放大倍率	20 ~ 2,000,000 x
	电子�?/td>	肖特基场发射电子溏�/td>
	加速电厊�/td>	0.1 ~ 30 kV
	着陆电厊�span style="margin: auto 1px; font-size: 12.2442px; vertical-align: 0.45em; line-height: 12.2442px;">*1,*3	0.01 ~ 7 kV
	**束流	200 nA
探测�?/th>	标配探测�?/td>	上探测器（UD（�/td>
		下探测器（LD（�/td>
	选配探测�?span style="margin: auto 1px; font-size: 12.2442px; vertical-align: 0.45em; line-height: 12.2442px;">*3	镜筒内背散射电子探测器（MD（�/td>
		半导体式背散射电子探测器（PD-BSE（�/td>
		高灵敏低真空探测器（UVD（�/td>
		扫描透射探测器（STEM（�/td>
	选配附件*2	X射线能谱仪（EDS（�/td>
		电子背散射衍射探测器(EBSD)
样品�?/th>	马达驱动轳�/td>	5轴马达驱�?/td>
	移动范围
	X	0 ~ 110 mm
	Y	0 ~ 110 mm
	Z	1.5 ~ 40 mm
	T	-5 ~ 70°
	R	360°
样品宣�/th>	样品尺寸	**直径�?50 mm*4
低真空模弎�/th>	真空范围	5 ~ 300 Pa