苏州晶格电子有限公司
已认?/p>
ST2263型双电测数字式四探针测试?/p>
二、概?/span>
ST2263型双电测数字式四探针测试?/span>是运?span style="color:#f70909;">直线或方形四探针双位?改进形范德堡测量方法测试电阻?方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,它与单电测直线或方形四探针相比,大大提高正确度,特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试
仪器成套组成9/span>由主机、选配的四探针探头、测试台以及PC软件等部分组成、/span>
主机主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成,USB通讯接口。仪器主机所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘和数码开关输入;具有零位、满度自校功能;测试功能可自?手动方式;仪器操作可由配套软件在PC机上操作完成,也可脱PC机由四探针仪器面板上独立操作完成。测试结果数据由主机数码管直接显示,也可连机由软件界面同步显示、分析、保存和打印?/span>
探头选配9/span>根据不同材料特性需要,探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻?方阻;也有球形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻?方阻。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量、/span>
测试台选配9/span>一?strong>四探针法测试电阻?方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型测试台、/span>
仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、测量简便、结构紧凑、使用方便等特点、/span>
仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试,特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试、/span>
三、基本技术参?/span>
3.1 测量范围
电阻率:1×10-4?×105Ω-cm,分辨率?×10-5?×102Ω-cm
?nbsp; 阻:5×10-4?×105Ω/□,分辨率:5×10-5?×102Ω/■/span>
?nbsp; 阻:1×10-5?×105Ω ,分辨率?×10-6?×102Ω
3.2 材料尺寸(由选配测试台决定和测试方式决定)
?nbsp; 径:SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15?30mm,手持方式不陏/span>
SZT-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm,手持方式不?
??度:测试台直接测试方 H?00mm, 手持方式不限.
测量方位: 轴向、径向均?/span>
3.3. 4-1/2 位数字电压表9/span>
(1)量程 20.00mV?000mV
(2)误差:?.1%读数±2 孖/span>
3.4 数控恒流溏/span>
(1)量程?.1μA?μA?0μA?00µA?mA?0mA?00mA?A
(2)误差:?.1%读数±2 孖/span>
3.5 四探针探夳/span>(选配其一或加配全部)
(1)碳化钨探针:Φ0.5mm,直线探针间?.0mm,探针压劚 0?kg 可调
(2)薄膜方阻探针:?.7mm,直线或方形探针间距2.0mm,探针压劚 0?.6kg 可调
3.6 电源
输入: AC 220V±10% ,50Hz ?nbsp; 耗:<20W
3.7 外形尺寸9/span>
主机 220mm(长)?45 mm(宽)?00mm(高(/span>
联系人:王经琅/strong>
联系电话?3656 225155
微信?3656 225155
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91320506553771630T法人代表
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