M-3手持式四探针测试�?/p>

二、概�?/strong>

3型手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻�?方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国标并参考美� A.S.T.M 标准、�/p>

成套组成９�/span>由M-3主机、选配的四探针探头等二部分组成，也可加配测试台、�/p>

仪器所有参数设定、功能转换全部采用轻触按键输入；具有零位、满度自校功能；手动/自动转换量程可选；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电电池供电，适合手持式变动场合操作使用！

探头选配９�/span>根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻�?方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻�?方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头，也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻、�/p>

〉�/strong>四探针探头特点与选型参考》点击进�?/strong>

仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点、�/p>

仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的手持式导电性能的测试、�/p>

三、基本技术参�?/strong>

1. 测量范围、分辨率

�?nbsp; 阺� 0.010Ω� 50.00kΩ, 分辨�?.001� 10 Ω

� � 玆� 0.010Ω� 20.00kΩ-cm，分辨率0.001� 10 Ω-cm

方块电阻: 0.050Ω� 100.0kΩ/�?nbsp; 分辨�?.001� 10 Ω/■�/p>

2. 可测材料尺寸

手持方式不限材料尺寸，但加配测试台则由选配测试台决定如下：

�?nbsp; 径：SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15�?30mm、�/p>

SZT-C方测试台直接测试方式180mm×180mm、�/p>

�?�?度：测试台直接测试方� H�?00mm�?

测量方位: 轴向、径向均�?

联系人：王经琅�/strong>

联系电话�?3656 225155

微信�?3656 225155