产品型号

TEM-APT Holder电镜连用三维原子探针样品杅�/strong>

主要特点

1（�/span>TEM-APT样品杆：三维原子探针＇�span>3DAP）和透射电镜＇�span>TEM）是先进的原子尺度表征手段、�/span>

2）三维原子探针的结果不是“可视”的，需要通过数据重构再现。透射电镜能提供“直接可视”的实验结果，但是结果是二维投影的，并且很难获得三维的单个原子尺度的成分信息。基于它们各自的优势，我们开发了3DAP-TEM样品杆，可以将原子探针（APT）试样直接加载到TEM样品杆上、�/p>

产品结构

产品作用

�?）在TEM中直接观察APT试样上是否有令人感兴趣的区域，使样品检测工作效率增加；

�?）通过大角度倾转试样，获得不同角度试样的形貌结构特征，为3DAP数据重构提供帮助：�/span>

�?）TEM观察过后的试样可以直接移到APT中继续实验。将APT结果与TEM图像相结合，� 助于优化重构参数，并�?DAP结果更具有可信度、�/span>

�?）在原子水平上获得了样品的组成和结构、�/span>

产品性能

�?（�/span>接受锥形电化学抛光的样品或聚焦离子束（FIB）制备的样品柱、�/span>

�?（�/span>允许360��的图像采集和层析图像的重建，不会因楔子缺失而造成信息损失、�/span>

�?（�/span>样品可以很容易地从支架上取出，然后直接转移到APT机上进行进一步表征、�/span>

�?（�/span>兼容所有几何形状的极片间隙、�/span>