美国MAS ZetaAPS电位分析�?/strong>

产品介绍９�/strong>

美国MAS纳米粒度及Zeta电位分析仪，可以测试：粒径、Zeta电位、滴定、电导等、�/p>

此仪器容易使用、测量精确。对于高�?0%（体积）浓度的样品，也无需进行稀释或样品前处理，即可直接测量甚至对于浆糊凝胶、水泥以及用其它仪器很难测量的材料都可直接进行测量、�/p>

典型应用９�/strong>

综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料、�/p>

主要特点９�/strong>

1）能分析多种分散物的混合体；

2）无需依赖Double Layer模式，精确地判定等电点；

3）可适用于高导电(highly conducting)体系：�/p>

4）可排除杂质及对样品污染的干扰；

5）可精确测量无水体系：�/p>

6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；

7）样品的高浓度可�?0%(体积�?，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；

8）具有自动电位滴定功能；

优于光学方法的技术优势：

1)被测样品无需稀释；

2)排除杂质及对样品污染的干扰；

3)不需定标：�/p>

4)能分析多种分散物的混合体：�/p>

5)高精度；

6)所检侧粒径范围款�? nm�?000um

优于electroactics方法的技术优势：

1)无需定标：�/p>

2)能测更宽的粒径范围；

3)无需依赖Double Layer模式

4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；

5)零表面电荷条件下也可测量粒径：�/p>

6)可适用于无水体系；

7)可适用于高导电(highly conducting)体系：�/p>

优于微电泳方法的技术优势：

1)无需稀释，固合量高�?0%：�/p>

2)可排除杂质及对样品污染的干扰：�/p>

3)高精�?��0.1mv)：�/p>

4)低表面电�?可低�?. 1mv)：�/p>

5)electrosmotic flow不影响测量；

6)对流(convection)不影响测量；

7)可精确测量无水体系；

技术参数：

1)所检测粒径范围宽：从5 nm�?000um：�/p>

2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减：�/p>

3)Zeta电位测量范围�?/-200 mv，低表面电荷(可低�?. 1mv)，高精度(��0.1mv);

4)零表面电荷条件下也可测量粒径：�/p>

5)允许样品浓度�?.1-60%(体积百分�?：�/p>

6)样品体积�?0-230ml：�/p>

7)PH范围�?~14;

8)电导率范围：0~10 s/m