薄膜相变分析�?/span>是一款对相变材料相变特性进行测量与分析的精密光电仪器，可通过自动测量分析薄膜或者粉体等相变材料的热滞回线、相变温度、热滞宽度、相变幅度等特性参数、�/span>

先进的模块化设计理念、精密的光探针技术、高端的进口芯片、便捷的自动测试分析软件、以及时尚的外观，使该仪器成为二氧化钒等相变材料研究的不二选择。中国科学院广州能源研究所，深圳大学等单位为典型用户、�/span>

薄膜相变分析�?/span>

技术特点：

1、精密光学测量技术，可进行单层、多层和超小样品的测量，且灵敏度更高

2、非接触式信号采集，避免了接触式探针测量对样品的损伤和不稳定性缺炸�/span>

3、先进的光探针技术，使得采样范围*小直径可�?00微米

4、全自动一-键测量，操作简单，省时、省亊�/span>

5、超高采样速率1测量快速、准确，工作效率髗�/span>

6、触摸屏操作与电脑操作两种模式，测量随心所欱�/span>

7、升温速率无级可调，根据实际需求任意选择

8、与DSC测量相比，具有超高性价毓�/span>

9、科研型与基础型，满足不同需汁�/span>

技术规栻�/span>

1、仪器型号PTM1700

2、工作波�?550nm (特殊需要波长可定制)

3、样品台温度范围:室温~120��C，温度精�?0.1��C

4、采样频�?Hz

5�?小采样范围直�?00um

6、红外非接触测温模式

7、自然冷却与风冷两种降温模式

8、加热速率无级可调

9、设定参数后自动测量出薄膜相变的热滞回线

10、USB2.0高速数据接叢�/span>

11、测试分析软件可得到相变温度、热滞宽度等特性参�?/span>

12.可以Exce形式导出各原始测试数据和分析数据，以word形式导出测试分析报告