metrolux夏克-哈德曼波前分析仪WFS

Metrolux夏克-哈德曼波前分析仪WFS3743-40-200可在线分析激光及其他光源的波前相位分布，也可高精度的测量光学器件的像差。可以用亍�/span>扊�/span>机和相机的镜头等光学透镜质量控制。夏兊�/span>-哈特曼式传感器的波前监控器配合外部软件可用于波前数据分析、�/span>

�?/span>品应�?/span>９�/span>

用于测量激先�/span>的波前；

测量光学器件的像差；

扩展皃�/span>Raylux软件用于数据分析：�/span>

用于透镜的质量控刵�/span>

产品参数９�/span>

测量精度:��/ 1000：�/span>

曝光时间:10��s - 120 s：�/span>

数据解析�?/span>:12 Bit：�/span>

帧率９�/span>15fps：�/span>

微透镜个数９�/span>45��35：�/span>

探测器类型：2/3CCD“�/span>：�/span>

有效区域９�/span>8.97��6.71mm：�/span>

微透镜大小９�/span>200��m：�/span>

焦距:40 mm：�/span>

动态范围：90 ��：�/span>

透镜焦距:7 mm：�/span>

曲率半径:14 mm：�/span>

像素尺寸:6.45��m：�/span>

像素:1380 x 1040：�/span>

软件界面