基于Phasics四波横向剪切干涉**技术，SID4波前分析仪具备了很高的的相位和强度分辨率＇/span>160x120测量点），且使用简便、/span>
SID4-HR光学器件测量自适应光学
特点９/span>
由于其独特的**技术技术，Phasics皃/span>SID4波前传感器具备以下特点：
1.超高分辨率：160x120测量炸/span>
2.直接测量发散和准直光杞/span>
3.仍/span>400?/span>1100nm消色?/span>
4.自校准：振动不敏感和容易对齐
5.紧凑，体积小
应用９/span>
SID4波前传感器提供新的可能性应用：
激光：光束诊断、自适应光学
光学：精密透镜测试和表面测野/span>
生物学：显微自适应光学
SID4产品参数９/span>
波长范围 |
400 - 1100 nm |
通光孔径 |
3.6 x 4.8 mm2 |
空间分辨玆/span> |
29.6 m |
采样点（相位/强度（/span> |
160 x 120 (> 19 000 points) |
相位相对灵敏?/span> |
< 2 nm RMS |
相位精度 |
10 nm RMS |
动态范図/span> |
> 100 m |
采样频率 |
> 100 fps |
实时分析频率 |
> 10 fps (full resolution) |
数据接口 |
Giga Ethernet |
尺寸(w x h x l) |
54 x 46 x 75.3 mm |
重量 |
~250 g |
