基于Phasics**的四波横向剪切干涉技术和高质量的InGaAs探测器，提供了一个高的空间分辨率和灵敏度。确保测量红外镜头和短波红外源的精度。此外，SID4 SWIR提供了光谱范围从0.4?/span>1.7m，这种波前传感器覆盖可见光、近红外和短波红外区域且不需要任何校准直接进行测量、/span>
SID4-Swir光学器件测量自适应光学
特点９/span>
由于其独特的**技术技术，Phasics皃/span>SID4-Swir波前传感器具备以下特点：
1.高分辨率９/span>160x128测量炸/span>
2.高灵敏密?/span>：整个光谱范围内相位噪声低于2nm
3.消色?/span>９/span>0.4-1.7m（可扩展?/span>2.4m（/span>
4.紧凑：易于集戏/span>
应用９/span>
透镜测试９/span>SID4 SWIR波前分析仪实时测量光学元仵/span>MTF和畸变。适用于光通信，夜视和其他军事和监视设备。无色差＋/span>SID4 SWIR涵盖所有光通信波长、/span>
激光束测试９/span>SID4 SWIR也可以短波红外光源，僎/span>1.55m激光器或用于激光导向系统的LED、/span>
SID4-Swir产品参数９/span>
波长范围 |
0.4-1.74m（可扩展?/span>2.4m（/span> |
通光孔径 |
9.6 x 7.68 mm2 |
空间分辨玆/span> |
60 m |
采样点（相位/强度（/span> |
160 x 128 (> 19 000 points) |
相位相对灵敏?/span> |
<2nm RMS |
相位精度 |
~ |
动态范図/span> |
~ |
采样频率 |
120 fps |
实时分析频率 |
10 fps (full resolution) |
数据接口 |
Giga Ethernet |
尺寸(w x h x l) |
95 x 50 x 58 mm |
重量 |
355g |