基于Phasics四波横向剪切干涉**技术的SID NIR波前传感器波长范围覆盕/span>1.5- 1.6m，具有超高分辨率＇/span>160x120测量点）。确保非常精确的波前测量。结构紧凑，很容易集成到一个光学台用于镜头测试或镜头校准。它也适用于光学表面测试、/span>
SID4-HR光学器件测量自适应光学
特点９/span>
由于其独特的**技术，Phasics皃/span>SID4-NIR波前传感器具备以下特点：
1.高分辨率９/span>160x120测量炸/span>
2.高数值孔径测野/span>：无需转镜夳/span>
3.消色?/span>９/span>1.5-1.6m
4.结构紧凑：易于集成于光学系统
应用９/span>
SID4 NIR主要应用镜头测试和光学系统校准。适用于所有的近红外光学，如用于电信领域或光谱和夜视设备、/span>
镜头表征：实时提侚/span>MTF和畸变数据。结构紧凑，易于集成于试验台和生产线、/span>
光学设备校准：它提供了一个非常准确的*小像差测量、/span>
SID4 NIR产品参数９/span>
波长范围 |
1500 - 1600 nm |
通光孔径 |
3.6 x 4.8 mm2 |
空间分辨玆/span> |
29.6 m |
采样点（相位/强度（/span> |
160 x 120 (> 19 000 points) |
相位相对灵敏?/span> |
< 11 nm RMS |
相位精度 |
15 nm RMS |
动态范図/span> |
~ |
采样频率 |
> 60 fps |
实时分析频率 |
> 10 fps (full resolution) |
数据接口 |
Giga Ethernet |
尺寸(w x h x l) |
44 x 33 x 57.5 mm |
重量 |
~250 g |