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X射线仪器
半导体行业专用仪?/a>
波谱仪器
光谱检测分析仪
X射线显微CT9/strong>
高分辨率三维 X 射线显微镛/span>
显微CT即Micro-CT,为三维X射线成像,与医用CT(或“CAT”)原理相同,可进行小尺寸、高精度扫描、/span>
通过对样品内部非常细微的结构进行无损成像,真正实现三维显微成像。无需样本品制备、嵌入、镀层或切薄片、/span>
单次扫描将能实现对样品对象的完整内部三维结构的完整成像,并且可以完好取回样本品!
特点9/strong>
单次扫描**可获 2000 张,每张大小 209M?4450 x 14450 像素)的超清无损切片,用于之后高分辨三维重建。通过先进的相衬增强技术,SkyScan1272 对样品的细节检测能力(分辨率)高达 350 纳米、/span>技术规范:
◆X射线源:20-100kV?0W,焦点尺寸<5m@4W
◆X射线探测器:1600万像素(49043280像素)或1100万像素(40322688像素(/p>
?4位冷却式CCD光纤连接至闪烁体
◆标称分辨率?*放大率下样品的像素) 1600万像素探测器?.35um
1100万像素探测器?.45um+/span>
◆重建容积图(单次扫描)?600万像素探测器?*14456144562630像素
1100万像素探测器?*11840118402150像素
◆扫描空间:**值:直径75mm,长70mm
◆辐射安全:在仪器表面的任何一点上? uSv/h
◆外形尺寸:1160(宽?#215;520(深?#215;330(高)毫米(带样品切换器?40毫米(/span>
◆重量:150千克,不含包裄/span>
◆电源:100-240V / 50-60Hz,典型值:在大X射线功率下为90W
应用实例
高分子材料和复合材料
◆揭示微小细节,*小体素可?.35 m
◆分析微观结构的组分,编织方式和孔隙筈/p>
◆定量分析缺陷,纤维直径和倾向
地质与油气领埞/span>
◅span>测量孔隙网络特征,颗?孔隙尺寸与形?/p>
◆计算矿物成分在三维空间的分市/p>
◆为样品建立精确的三维数字化模型,如文物筈/span>
◆动态过程分枏/span>
生物材料
◆可原位分析材料的力学性能和动态演化过稊/p>
◆定量分析三维结构的孔隙度,孔隙网络特征和局部厚?/p>
◆检测由于制作过程造成的不均匀性和偏差
制药与封裄/span>
◆测量外衣材料的厚度和有效成分的分布
◆测量力学参数和缺陷
◆可? x 7 x 7 cm样品进行包装检浊/p>
◆监控金属和塑料组分的质野/span>
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