分析原理

能量色散X射线荧光分析泔�/p>

分析元素

Si～U(Cd/Pb高精度型)

Na～U(��1.2 mm/��3 mm切换方式�?

检出下�?Cd/Pd)

Cd�? ppm� Pb�? ppm Cl�?0ppm

样品形状

**460��360 mm(�?50 mm)

样品室气氚�/p>

大气

X射线箠�/p>

靶材

Rh

管电厊�/p>

**50 kV

管电�?/p>

**1 mA

X射线照射徃�/p>

��3 mm

(同时搭载�?#966;1.2mm )

检测器

高纯硅检测器 XEROPHY

液氮罐容野�/p>

3卆�/p>

液氮消耗量

每日1升以�?不开机时不用)

光学图像观察

倍率 50�?X射线同轴)

软件

定性分析：自动定性或手动定�?/p>

定量分析：检量线泔�/p>

照射直径3mm旵�/p>

基础参数� (1)标准� (2)1点校止�/p>

计算朹�/p>

CPU

Pentium IV 1.8 GHz 以上

内存

1GB 以上

硬盘

120 GB 以上

OS

Windows XP

监视�?/p>

17� CRT(任选：17� LED)

打印朹�/p>

彩色喷墨打印朹�/p>

周围温度

10�?5 �?性能温度)/ 5�?0 �?动作温度)

周围湿度

5�?1 ℃时温度范围�?*相対湿度80 %以下

31�?0 ℃时温度范围：相対湿�?0 %以下

电源

AC 100 V�?20 V�?20 V�?40 V ��10 %�?0/60 Hz

消耗电劚�/p>

1.3 kVA 以下(含计算机、CRT、打印机)

设备重量

� 265 kg(不含桌子、计算机)

外形尺寸

分析单元

610(W)��750(D)��500(H)mm

信号处理单元

220(W)��500(D)��480(H)mm