?948年Friedmann和Burks研制出第一台商用X射线荧光光谱仪起，x射线开始应用到光谱分析领域，由于光谱干扰少、检测元素范围广、含量测量范围宽(ppm?100%)、精密度高、重复性好、试样制备简单、分析速度快、具有非破坏性分析方?被众多领域所认可，逐渐成为实验室不可缺少和替代的手段、a href="//www.znpla.com/shruishenbao/news_19596.html" target="_blank" style=" position:absolute; bottom:0;right:0; background:#fff;">...全文>>
X 射线荧光实际上是一种表面分析方法，激发只发生在试样的浅表面，必须注意分析面相对于整个样品是否有代表性，样品的平均粒度和粒度分布至关重要。被分析样品的粒度越小，同一元素粒度越小，制样稳定性越好，但是粒度越小，研磨难度越大，在实际的应用中一般要求粒度小?00 目即可。目前X 射线荧光分析的样品处琅a href="//www.znpla.com/shruishenbao/news_18516.html" target="_blank" style=" position:absolute; bottom:0;right:0; background:#fff;">...全文>>
XRF 分析制样用的熔样机分为高频感应加热型、电热型、燃气加热型等几种类型，应用均较为普遍。其中电热型的特点是采用热电偶测温技术，温控准确，加热均匀，可同时熔解多个样品，制样速度快，无需供水、供气辅助设备。虽然对操作者的热辐射较大，但是由于其精确的温度控制功能，此类型熔样机是各类样品XRF 分析标准
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