Leica EM TXP是一款可对目标区域进行精.确定位的表面处理工具，特别适合于SEM, TEM及LM观察之前对样品进行切割、抛光等系列处理。它尤其适合于制备高难度样品，如需要对目标精细定位或需对肉眼难以观察的微小目标进行定点处理。有了Leica EM TXP,这些工作就可轻松完成、�/span>

在Leica EM TXP之前，针对目标区域进行定点切割，研磨或抛光等通常是一项耗时耗力，很困难的工作，因为目标区域极易丢失或者由于目标尺寸太小而难以处理。使用Leica EM TXP，此类样品都可被轻易处理完成、�/span>

另外，借助其多功能的特点，Leica EM TXP也是一款可为离子束研磨技术和超薄切片技术服务的*效的前制样工具、�/span>

徕卡精研一体机

与观察体系合为一佒�/strong>

看清细节

为微尺度制样而生

在显微镜下观察整个样品处理过程和目标区城

将样品固定在样品悬臂上，在样品处理过程中，通过体视显微镜可对样品进行实时观察，观察角度0°�?0°可调，或者调�?30°，则可通过目镜标尺进行距离测量。Leica EM TXP还带有明亮的环形LED光源照明，以便获得更佳的视觉观察效果、�/p>

★★� 对微小目标区域进行精.确定位和样品制备
☄�/span>☄�/span>�?nbsp;通过立体显微镜实现原位观寞�br style="margin: 0px; padding: 0px;"/>☄�/span>☄�/span>�?nbsp;多功能化机械处理
☄�/span>☄�/span>�?nbsp;自动化样品处理过程控刵�br style="margin: 0px; padding: 0px;"/>☄�/span>☄�/span>�?nbsp;可获得平如镜面的抛光效果
☄�/span>☄�/span>�?nbsp;LED环形光源亮度可调�?分割区段可逈�/span>

多种方式制备处理样品

样品无需转移，只需切换工具

不需要来回转移样品，只需要简单地更换处理样品的工具就可完成样品处理过程，并且样品处理全过程都可通过显微镜进行实时观察。出于安全考虑，工具和样品所在的工作室带有一个透明的安全罩，可避免在样品处理过程中操作者不小心触碰到运转部件，又可防止碎屑飞溅、�/p>

Leica EM TXP 可对样品进行以下处理９�/span>

★★� 铣削

★★� 切割

★★� 研磨

★★� 抛光

★★� 冲钻

自动化样品处理过程控刵�/strong>

让徕卡EM TXP来工佛�/span>

EM TXP的自动化样品处理过程控制机制，可以帮助您从常规繁重的样品制备工作中解脱出�?
☄�/span>☄�/span>�?nbsp;带有自动化E-W运动控制机制

★★�?nbsp;带有自动化应力反馈机刵�/span>

★★�?nbsp;带有自动化进程或时间倒计数功胼�/span>

★★�?nbsp;带有应力反馈控制的空心钻自动前进

★★�?nbsp;带有润滑冷却剂自动注液和液面监控机制

精确的目标定佌�/strong>

★★�在显微镜辅助观察下，通过精密移动工具来帮助你实现

★★�如移动锯片到接近目标位置进行切割;然后不用取下样品，直接将锯片更换成研磨片对目标位置进行快速研�?当快接近目标位置，可以采用Count down倒计数功能，自动研磨厚度(2 um)，或后采用Count down倒计时功能，自动抛光

★★�得益于精密机械控制部件，样品加工工具步进精度小可�?.5um

精确的角度校凅�/strong>

★★�在显微镜辅助观察下，通过角度校准适配器帮助你实现对样品角度的微调
☄�/span>☄�/span>�角度校准适配器固定在样品夹具和样品悬臂之间，可以实现水平方向和垂直方向分别士5°角度微调