布鲁克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射线衍射仪，采用创造性的达芬奇设计，通过TWIN-TWIN光路设计，成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换，而无需对光。通过的TWIST TUBE技术，使用户可以在1分钟内完成从线光源应用（常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到点光源应用（织构、应力、微区）的切换，让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史�?/p>

高精度的测角仪可以保证在全谱范围内的每一个衍射峰（注意不是一个衍射峰）的测量峰位和标准峰位的误差不超�?.01度，布鲁克AXS公司提供全球保证�?/p>

先进的林克斯阵列探测器可以提高强�?50倍，不仅答复提高设备的使用效率， 而且大幅提高了设备的探测灵敏度、�/p>

技术指标：

Theta/theta 立式测角�

2Theta角度范围�?110~168��

角度精度�?.0001�

Cr/Co/Cu靶，标准尺寸光管

探测器：林克斯阵列探测器、林克斯XE阵列探测�

仪器尺寸�?868x1300x1135mm

重量�?70kg

应用

物相定性分枏�/p>

结晶度及非晶相含量分枏�/p>

结构精修及解枏�/p>

物相定量分析

点阵参数精确测量

无标样定量分枏�/p>

微观应变分析

晶粒尺寸分析

原位分析

残余应力

低角度介孔材料测野�/p>

织构及ODF分析

薄膜掠入尃�/p>

薄膜反射率测野�/p>

小角散射