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产品分类
半导体行业专用仪?/a>
半导体专用检测仪设备COREMA-WT/VT/ER
晶圆/硅片划遗线检?统计Slip Finder
扩散?LPCVD/diffusion and LPCVD Furnace
美国Mactronix硅片倒片?半导体FAB专用)
WEP,ECV PN结深度测试仪/扩散浓度分布)
PN结漏电流测试Mo-280
CV?汞探?美国四维公司)Four Dimensions,Inc.(4D)
光学仪器及设夆/a>
产品简今/div>
仪器简介:
世界范围内占用率**的CV仪,日本市场几乎全是购买的美国Four Dimensions(4D)公司的CV??主要的特点是重复性好,半年甚至一年才换一次汞,非常安全和方便 同时每次汞测量时的接触面积重复性好,而且还是没有被污染的新鲜的汞,从而保证有很好的重复性和精确性,这是他的竞争对手无法企及?
技术参数:
世界范围内占用率**的CV仪,日本市场几乎全是购买的美国Four Dimensions(4D)公司的CV??主要的特点是重复性好,半年甚至一年才换一次汞,非常安全和方便 同时每次汞测量时的接触面积重复性好,而且还是没有被污染的新鲜的汞,从而保证有很好的重复性和精确性,这是他的竞争对手无法企及?
部分客户列表9/p>
Siltron | Korea |
Tel | USA |
NEC | Japan |
Mitsubishi Heavy Industry | Japan |
Tel | Japan |
ShinEtsu (SEH) | Japan |
NSC | Japan |
ST Microelectronics | Italy |
SAIT | Korea |
SAIT | Korea |
Skywork | USA |
Rohm | Japan |
Tel-AT | Japan |
AIST | Japan |
55th Institue | China |
Nissan Chemical | Japan |
NPK ELKAR | Russia |
SEI | Japan |
Cree | USA |
Cree | USA |
Infineon | Austria |
Intel | USA |
ZEON | Japan |
UESTC (CHengDu) | China |
MITSUBISHI | Japan |
NAGASE | Japan |
SANKEN | Japan |
MST | Japan |
EBARA | Japan |
MMC | Japan |
SEHI | Japan |
DELSOLAR | Taiwan |
AEROSPACE | USA |
US Silicon | USA |
Tianma | China |
主要特点9/strong>
世界范围内占用率**的CV仪,日本市场几乎全是购买的美国Four Dimensions(4D)公司的CV??主要的特点是重复性好,半年甚至一年才换一次汞,非常安全和方便 同时每次汞测量时的接触面积重复性好,而且还是没有被污染的新鲜的汞,从而保证有很好的重复性和精确性,这是他的竞争对手无法企及?
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