四探针方阻电阻率测试仪，四探针电阻率/方阻测试�

FT-331普通四探针方阻电阻率测试仪

广泛用于９�/span>

覆盖膛�导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测诔�/span>

硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻半导体材斘�/span>/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜，抗静电材料� EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等

按照硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美� A.S.T.M 标准，本机配�?32电脑接口及USB两种接口，本机结合采�?strong>范德堡测量原琅�/strong>能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步，特别是方块电阻值较小的产品测量，更加准�?

提供中文或英文两种语言操作界面选择，满足国内及国外客户需汁�/span>.

本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表：�/span>本仪器采�?/span>4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚�?/span>、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.

参数资料

1.方块电阻范围９�/span>10^-5�?��10⁵��/■�/span>

2.电阻率范围：10^-6�?��10⁶��-cm

3.测试电流范围９�/span>0.1��A�?��A�?0��A�?00��A�?mA�?0mA�?00 mA

4.电流精度９�/span>��0.1%读数

5.电阻精度９�/span>�?.3%

6.显示读数９�/span>液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚�?/span>、电导率

7.测试方式: 普通单电测野�/span>

8.工作电源:输入: AC 220V��10% �?0Hz办�/span>耗：<30W

9.整机不确定性误�?�?%（标准样片结果）

10.选购功能: 选购1.pc软件� 选购2.方形探头� 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台

11.测试探头� 探针间距选购�?mm�?mm�?mm三种规格; 探针材质选购：碳化钨钇�白钢针；镀金磷铜半球形钇�/span>