日本OtsukaElectronics(大塚电子)公司，旗下Photal品牌MCPD（多通道光学检测器）系列，专注专业专注于行�?0年，**结构设计，体积小、重量轻、便于移动、�/span>

特色９�/span>

1.亮部至暗部的曝光细节�?*的高动态范围检出能力，对于弱光的检出能力是普通光谱仪�?倍、�/span>*适用于光通量评价、�/span>

2.低迷光对应，*适合UV评价。相较于相同系列机型，迷光率仅约五分之一!

3.*�?/span>5msec~65sec*1的曝光时间、�/span>适用于量测微弱光源以及架设于生产线上即时检测等多元应用、�/span>

4.特殊方式缠绕的光纤设计，展现稳定的重复再现性、�/span>

5.小巧轻量化设计，相较于历代机型与同类型机型，容积比约减少60%、�/span>

	3683C		311C		2480C
波长范围	360 ~ 830 nm		360 ~ 1100 nm		240 ~ 800 nm
分光元件	光栅分光＋�/span>F=3＋�/span>f=85.8mm
感光元件	CCD影像传感�?/span>(电子冷却)
	512ch	1024ch	512ch	1024ch	512ch	1024ch
解析能力	1.0nm	0.5nm	1.6nm	0.8nm	1.2nm	0.6nm
光纤规格	石英制光纤，金属包覆，固定口徃�/span>�?/span>12mm，长�?/span>2m
量测功能	发光光谱，穿透率、吸收率光谱，反射率光谱
尺寸重量	110＇�/span>W�?nbsp;x 230＇�/span>H�?nbsp;x 282＇�/span>D（�/span>mm，约6kg

应用范围９�/span>

发光光谱分析仪系绞�/span>
反射光谱分析仪系绞�/span>
穿透、吸收光谱分析仪系统
色度光谱分析仪系绞�/span>
光源光谱分析仪系�?色度/辉度/照度)
膜厚光谱分析仪系绞�/span>
萤光光谱分析仪系绞�/span>
双折射相位差光谱分析�?/span>
微光学元件光谱分析仪系统