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日立分析EA1000VX X射线荧光分析?/div>
日立分析EA1000VX X射线荧光分析仪的图片
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日本
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概要9/strong>

对应环境限制物质管理、可快速且简单测量有害物质的X射线荧光分析仪、/p>

型号:EA1000VX

测量元素:原子序?3(Al)?2(U)

样品形态:固体、粉末、液佒/strong>

射线源:X射线管球(Rh靶材)

管电压:**50kV 管电流:**1000A

检测器:多阴极半导体检测器

分析领域?#934;1mm?#934;3mm?#934;5mm (自动切换)

样品观察:彩色CCD摄像夳/strong>

滤波器:5种模式自动切捡/strong>

样品室:370(W) 320(D) 120(H)mm

定性分析:能谱测量、自动辨别、KLM标示表示、差异表礹/strong>

定量分析:块体校准曲线、块体FP泔/strong>

有害物质测量功能:环境管制物质测量软件Ver.2、Dbeasy

材料辨识、分析线切换、波峰分离显示功能、波峰标记功能等

数据处理:配备EXCEL、配备WORD

外形尺寸?20(W?#215;600(D?#215;445(H)mm

安装尺寸?500(W?#215;1000(D(/strong>

重量:约60kg

使用电源(主机):AC100~240V10%单相

选购项:自动进样器、能谱匹配软件、薄膜FP软件、各种标准物?/strong>

特点9/strong>

1. 快速测野/strong>

与之前的机器SEA1000AII相比,每个样品的测量时间*都缩短了。例如,树脂类样品测量时间缩短了?/3,金属类则缩短了1/10。实现了处理量(每天可测样品数量)的飞跃性提高、/p>

塑料中的

Cd,Pb,Hg,Br,Cr

高浓度BrSb塑料中的Cd,Pb,Hg,Cr 黄铜中的

Cd,Pb,Hg,Br,Cr

EA1000VX

?0科/p>

120秒以冄/td> 200秒以冄/td>
SEA1000AII ?00科/td> 360秒以冄/td> 2000秒以三/td>

表中显示为EA1000VX与SEA100AII样品测量时间(平均值)

*Cd?0 ppm,除此以外的元素是为了达?00 ppm的检? 低限所必要的总共时间。(本公司推荐条件下实施(/p>

2. 高技术率检测器(Vortex(/strong>

不需要液氮,使用**15万cps的高计数率检测器(Vortex)测量高灵敏度化,实现快速测量及高精度测量等、/p>

3.通过环境限制物质测量软件Ver.2的各种新功能,强化了有害物质测量功能—材料判断功胼/strong>

测量开始后短时间内就可测量样品的材质种类。以往,在测量前需要选择分析菜单,由于装置可以自动判断材质,不会在选择分析菜单时感到迷茫、/p>

4. 提高操作性—操作面松/strong>

根据操作面板的指示器和提示音,了解测量进度。根据测量面板的进度条,把握测量进展、/p>

5. 各种环境限制用的标准物质

除RoHS指令的管理对象元素(Cd,Pb,Cr,Hg,Br)以外,我公司也开发和制造能对应管理Cl、Sb、Sn等的标准物质、/p>

6. 自动进样器(选购项)

自动进样?多可连续测量12个样品、/p>

7. 通过环境限制物质测量软件Ver.2进行数据集中管理和趋势管琅/strong>

使用精度管理软件使测量时间变短,通过利用数据库对据点内测量数据进行的集中管理(检索、浏览、解析、编辑、印刷、报告书生成),可测量检查的效率,达到消减成本、/p>

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