1.即放即测� 2.10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量！ 3.可无标样测量� 4.通过样品整体图像更方便选择测量位置�?/p>

［SFT-110的主要特征］

1. 通过自动定位功能提高操作� 测量样品时，以往需花费�?0秒的样品对焦，现�?秒内即可完成，大大提高样品定位的操作性、�/p>

2. 微区膜厚测量精度提高 通过缩小与样品间的距离等，致使在微小准直器（0.1�?.2mm）下，也能够大幅度提高膜厚测量的精度、�/p>

3. 多达5层的多镀层测� 使用薄膜FP法软件，即使没有厚度标准片也可进行多�?�?0元素的多镀层测量、�/p>

4. 广域观察系统（选配� 可从**250��200mm的样品整体图像指定测量位置、�/p>

5. 对应大型印刷线路板（选配� 可对600��600mm的大型印刷线路板进行测量、�/p>

6. 低价� 与以往机型相比，既提高了功能性又降低20%以上的价格、�/p>

［主要产品规格］
检测器	比例计数箠�/p>
X射线溏�/p>	空冷式小型X射线箠�/p>
准直�?/p>	0.1�?.2mm��2秌�/p>
样品观察	CCD摄像夳�/p>
样品台移动量	250（X�?#215;200（Y）mm
样品**高度	150mm