优势

·基于双折射应力测量模型实现应力瞬时测量，显示应力二维分布伪彩国�br style="box-sizing: border-box; animation-fill-mode: both; padding: 0px; margin: 0px;"/>·采用双远心检测光路，相位延迟测量精度髗�br style="box-sizing: border-box; animation-fill-mode: both; padding: 0px; margin: 0px;"/>·根据不同测量视场要求，多种镜头可逈�br style="box-sizing: border-box; animation-fill-mode: both; padding: 0px; margin: 0px;"/>·订制化样品托盘，适应不同规格晶圆批量测试

适用对象

·适用于三代化合物晶圆片、玻璃晶圆片、精密光学元件（平晶，棱镜，波片，透镜等）的内应力检浊�/span>

适用领域

·面向化合物晶圆生产、光学精密加工等行业

测量原理

·基于偏振光应力双折射效应检测晶圆材料内部应力分布。当晶体材料由于内部缺陷存在应力集中时会导致应力双折射效应，偏振光透过它时会发生偏振态调制，通过测量透射光的斯托克斯矢量可以推算出材料的应力延迟量，从而得到材料内应力分布：�br style="box-sizing: border-box; animation-fill-mode: both; padding: 0px; margin: 0px;"/>·可同步集成晶圆表面缺陷暗场检测和尺寸量测