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安东帕中囼/p>
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已认?/p>
新品发布
Litesizer DIFLitesizer DLS
Litesizer DIF 激光衍射粒度仪
Litesizer DLS 系列
动态光散射粒度
Zeta 电位分析?/strong>
01Litesizer DIF 激光衍射粒度仪
安东帕的新型激光衍射粒度仪+/strong>它建立在 60 年的专业知识和其前身 PSA 的宝贵经验之上、/p>
Litesizer DIF提供领航新一代的粒度测量技术,测量范围 10 nm 3.5 mm。这是一个新时代的开始,拥有一流的光学系统、强大的 10 mW 25 mW 双波长激光器,以及领先的 0.01° 170° 的宽范围衍射角检测器阵列、/p>
主要特点
尺寸范围?0nm 3.5mm
两个固态激光器?0 年保?/p>
市场上最高的激光功率和最宽的角度范围
16kHz 的尖端数据采集率
光学系统具有减震和防尘设计,稳定耐用
快速连接的分散单元(可与Litesizer DIA互换(/p>
Kalliope软件-直观的一页工作流程设计和专用的QC模式
行业应用
水泥和矿?/p>
制药行业
食品饮料
化学工业
催化剁/p>
金属粉末
02Litesizer DLS 系列动态光散射粒度
Zeta 电位分析?/span>
全新 Litesizer DLS 系列动态光散射粒度和Zeta电位分析?/strong>提供世界领先的粒度和 Zeta 电位测量功能。具有业界先进的多角度测量和自动角度选择功能,更为先进的 MAPS(多角度协同粒度测量)技术,可实现最高的峰值分辨率。连续透射率监测可在测量过程中检测沉降和团聚,从而提高测量的可靠性、/p>
主要特点
全功能模式:智能多角度DLS粒度测量、多角度联合MAPS粒度测量、ELS模式Zeta电位测量、SLS分子量测量、PCON粒子浓度测量、透光率测量、折光率测量
测量温度 0 ?20ℂ/p>
最小样品量?.5μL
DLS 测量角度?5°?0°?75°三角?/p>
粒度测量范围 0.3 nm 12 µm
专利 cmPALS 技术,市场领先 Zeta 电位分析
Kalliape软件:粒度测量软件新标杆,简洁智能,零基础入门,三次点击即可获得专家级测量结果
市场上最强大的偏振和荧光滤光牆/p>
可升级:三角度荧光滤光片和偏振片
具备Litesizer DLS101?01?01不同型号,满足不同需汁/p>
行业应用
制药和生命科?/p>
化学工业
食品饮料
重工业和石油
废水和造纸
半导体和电池