薄膜的光学特性主要有反射和干�?NanoCalc薄膜反射测量系统可以用来进行10nm~250?m的膜厚分析测量，对单层膜的分辨率�?.1nm。根据测量软件的不同，可以分析单层或多层膜厚、�/p>

产品特点

1、可分析单层或多层薄膛�/p>

2、分辨率�?.1nm

3、适合于在线监浊�/p>

操作理论

*常用的两种测量薄膜的特性的方法为光学反射和透射测量、椭圆光度法测量。NanoCalc利用反射原理进行膜厚测量、�/p>

查找n和k倻�/h2>

可以进行多达三层的薄膜测量，薄膜和基体测量可以是金属、电介质、无定形材料或硅晶等。NanoCalc软件包含了大多数材料的n和k值数据库，用户也可以自己添加和编辑、�/p>

应用

NanoCalc薄膜反射材料系统适合于在线膜厚和去除率测量，包括氧化层、中氮化硅薄膜、感光胶片及其它类型的薄膜。NanoCalc也可测量在钢、铝、铜、陶瓷、塑料等物质上的抗反射涂层、抗磨涂层等、�/p>