RTM-VA全角度光谱测量台

材料中的很多成份，以不同角度入射，得到的透射率和反射率会发生变化。通过测量不同角度入射，研究材料的*敏感角度，为进一步研究或设计测量仪器提供依据、�/span>

RTM-VA全角度光谱测量台可以搭配光谱仪、光源及其他测量附件，可以对材料进行不同角度入射和接收的光谱测量，适用于各种表面平整的样品光谱测量。采用电控独立双轴设计，高精度步进电机控制发射端和接收端的角度，角度分辨玆�/span>0.05��、�span>光谱范围220-2500nm（可选择不同配置），电脑软件选择发射端和接收端的角度，实现快速的光谱测量，能够满足透射/反射/散射/荧光/辐射等多种模式的全角度光谱测量应用的需求、�/span>

入射端带有一个旋转偏振片架和一个滤波片架，可以放置一个偏振片和滤波片。接收端带有一个滤波片架，可以放置一个滤波片、偏振片或者波片。各种波长的范围的偏振片、滤波片和波片可供选择、�/span>

应用领域９�/span>

��光子晶体器件 ��传感器器件制� ��液晶显示

��纳米光学材料 ��材料镀� ��角度相关材料分析

��LED光源筈�/span>

主要特点９�/span>

• 全角度测量：发射端角度范�?���?80��，接收端角度范围0���?60��，可以实现反射、透射、散射、荧光和辐射的全角度光谱测量、�/span>

• 精确角度控制：高精度电机，角度精度及重复性能优异、�/span>

• 多光谱测量模式：可以实现上反射、下反射、透射、散�?荧光、辐射等多种光谱测量、�/span>

• 可编程测量模式：可以通过编程，来实现自动多角度光谱测量、�/span>

• 自由测量模式：可以任意控制样品台的入射角、接收角，实现光谱测量、�/span>

• 可选配件多样：根据客户的不同测量应用，可以选择不同的光源、滤光片、偏振片等配件完成不同的测量应用、�/span>

• 多维调节样品台：样品台由高精度三维位移台和二维倾斜台组成，可实现样品的五维正交调节、�/span>

光谱角度测量模式

反射测量（上反射/下反射）模式透射测量模式

散射/荧光测量模式辐射测量模式

参数指标
参数/型号	RTM-VA	RTM-VAS
光谱范围	360-2500nm	360-2500nm
光源	含钨灯光溏�/span>	含钨灯光源和积分琂�/span>
光斑大小	*�?mm	*�?mm
入射角范図�/span>	0-180��	0-180��
接收角范図�/span>	0-360��	0-180��
角度分辨玆�/span>	0.05��
测量对象	平面样品、发光样�?/span>		镜面样品、曲面样�?/span>
应用	反射、透射、散射、荧光测野�/span>		反射率、透过率测野�/span>

可选配仵�/span>

紫外扩展模块
RTM-UV	250-2500nm
光谱�?/span>
USB2000+	350-1000nm
QEPRO	350-1100nm
NIRQUEST	900-2500nm
光源
DH-2000	220-2500nm
偏振牆�/span>
PLine-UV
PLine-VIS-A	400-700nm
PLine-VIS-B	600-1100nm
PLine-NIR-A	1050-1700nm