方案详情９�/div>

Entegris Nicomp®动态光散射（DLS）系统是一种易于使用的粒度和zeta电位分析仪。本技术文档显示了Nicomp的典型结果，并对声场的数据进行解析说明、�/p>

关键诌�粒度分析仪；DLS；电位分析仪

1. 简介：动态光散射

DLS 技术是测量 1 nm 至约 10 μm 悬浮液粒径的理想方法（取决于颗粒密度）。Nicomp系统的简化光学图如图1所示、�/span>

粒子布朗运动产生的光散射导致探测器上的光字计数波动。波动的时间特征用于创建相关函数，由此确定平移扩散系数D。然后使用斯托克�?爱因斯坦方程计算粒径R９�/span>

� 1. DLS光学器件

2. 结果解析

窄分布的聚苯乙烯乳胶标准品（PSL）的典型结果如图2所示、�/span>

�?. Nicomp DLS 结果

这是一个强度加权高斯分布，因此完整的结果可以用两个数字定义；平均值和均方差。但是DLS1的ISO标准建议应使用平均值和多分散指数PI报告结果、�/span>

ISO 22412-2008中使用的命名法在技术上是准确的，但在现实中很少使用。例如，用于强度加权平均直径的术语是。在Nicomp软件中，这个值是平均直径。在其他供应商的软件中，这有时被称为Z平均值或Zave。因此，要按� ISO %22412-2008 中的指导报告 Nicomp 结果，要展示的两个值是平均直径和方� （PI）、�/span>

下面描述了图 2 中从左到右、从上到下显示的所有报告值、�/span>

平均直径 = 强度分布的平均直径（光强径） , 还有

� Zave� Coeff. Of Var’n. = 强度分布的变化系�?/p>

Stnd. Dev. = 强度分布的标准偏�? 占总分布的68.2% ± 1以内

Norm. Stnd. Dev. = Stnd. Dev./Mean

方差 (PI) = 多分散系数，定义如下

说明:

Qint,i : 粒径为xi的颗粒的强度加权量。粒径分布可以得到为直径，xi和相应的强度加权量的离散集合 {3Qint, i, xi, i = 1...N}

“Solid Particle� = Nicomp 软件在从强度分布转换为基于体积或数量的分布时，使用两种折射率模型。“Solid Particle”模型假设颗粒的折射率RI与分散液体的RI之间存在很大差异。“Vesicle”模型假设RI颗粒/RI液体的比例更接近，并针对脂质体进行了优化、�/p>

注意：这些模型不影响强度结果，只影响体积和数量结果、�/p>

Run Time = 测量持续时间的长�?/p>

Chi Squared = 拟合优度计算

注： 此值还指示应使用高斯还是多模� Nicomp 结果。如果卡方值低� 2-3，则建议使用高斯结果。对于大� 3 的卡方值，请考虑使用 Nicomp 结果、�/p>

AutoB. Adj. = 自动基线调整。当存在一些大颗粒或原始数据嘈杂时，相关函数的基线可能会不稳定。较高的Auto B. Adj 调整值表示数据存在噪声，可能需要更好的样品制备、�/span>

Ch 1.Data X1000 = 相关函数中通道 # 1 的内容。值越高，表示函数中的统计准确性越高、�/p>

Z-Average Diff Coeff= 斯托克斯-爱因斯坦方程中使用的扩散系数 D，用于将扩散系数转换为粒径、�/p>

3. 分布类型

� 2 所示的结果是高斯结枛�完全由平均值和标准差（� PI）定义。高斯分布的特征是，总数� 68% 与平均值相差在 1 个标准差范围内，如图 3 所示、�/span>

对于具有多个峰的样品，使用独特的Nicomp计算来解析多峰。较大的卡方值表示简单的高斯结果不能很好地表示原始数据。独特的Nicomp分布分析使用的一般数学过程称为拉普拉斯变换反演（“ILT”）。这种相当复杂的技术也被用于分析其他科学领域的各种问题，与光散射无关。具体的数学过程是高斯（累积量）分析中使用的最小二乘计算的更复杂的版本;它被称为非负最小二乘（“NNLS”）分析、�/span>

如图4所示的结果具有较高的Chi平方值，这意味着高斯结果与原始数据的最佳拟合，应考虑Nicomp结果。Nicomp结果如图5所示、�/span>

�?.高Chi平方结果，高斯结枛�/span>

�?.Nicomp 结果

DLS 测量的主要结果是强度加权分布。结果可以转换为数量或体积分布，以便与其他技术进行比较。例如，由于显微镜产生数量加权分布，因此数量分布将显示更接近SEM结果的结果。强度分布将类似于窄对称分布的体积或数量分布。对于更广泛的分布，结果将按照从大到小的一般顺序出现相当大的差异：强度>体积>数量。样品的强度、体积和数量结果的比较如�?-8所示、�/span>

�?. 强度分布结果（光强径（�br/>

国�/span>7.体积分布结果（体积径（�/span>

国�/span>8.数量分布结果（数量径（�/span>

数据也可以显示为低于所选百分比的累积结果，如图9所示、�/p>

注意：最后一个百分比（在本例中为 80%）可由操作员在“控制”菜单中更改、�/p>

4. ZETA电位

Nicomp系统还可用于测量样品的zeta电位。zeta电位是距离颗粒表面一小段距离的电荷，如图12所示、�/span>

�?2 Zeta电位

通过向悬浮液施加电场并测量粒子运动的速度和方向来分析Zeta电位。zeta电位测量的主要结果是电泳迁移率μ然后使用以下公式计算zeta电位９�/p>

Nicomp可以通过检测频率或相移来测量粒子运动。首选方法是使用相位分析光散射（PALS）技术测量相移、�/p>

Nicomp系统的典型zeta电位结果如图13所示、�/p>

� 13. Zeta 电位结果

此测量值要关注的结果值是平均 Zeta 电位，在本例中为八次测量后的累积值。强烈建议进行多� zeta 电位测量并使用平均值、�/span>

参考资斘�/span>

[1]ISO 22412 -2008 Particle size analysis � Dynamic light scattering (DLS)